621.3 Э526 Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : Отчет о НИР (промежут.) / Рук. НИР Г.-Н. Б. Дандарон.-N ГР 02.200.1 06296 ; ВСГТУ. - Улан-Удэ, 2000. - 32 с. : ил. - Б.ц. ГРНТИ 47 УДК:621.382 Ключевые слова: Полупроводниковая электроника -- Эллипсометрия субмонослойных порытий -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностный слой твердых тел -- Потенциальный барьер -- Монослой -- Вольт-амперная характеристика -- Медленные электроны -- Адсорбат -- отчеты о НИР Доп.точки доступа: Дандарон, Г.-Н.Б. --- ВСГТУ Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: зал ППС (1) Свободны: зал ППС (1) |