621.3
   Э526
   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : Отчет о НИР (промежут.) / Рук. НИР Г.-Н. Б. Дандарон.-N ГР 02.200.1 06296 ; ВСГТУ. - Улан-Удэ, 2000. - 32 с. : ил. - Б.ц.
ГРНТИ 47
УДК:621.382

Рубрики: Электроника полупроводниковая--Отчеты о НИР --- Физика твердого тела--Эллипсометрия ---
Ключевые слова: Полупроводниковая электроника -- Эллипсометрия субмонослойных порытий -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностный слой твердых тел -- Потенциальный барьер -- Монослой -- Вольт-амперная характеристика -- Медленные электроны -- Адсорбат -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа: Дандарон, Г.-Н.Б. --- ВСГТУ

Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)

   621.38
   Э526
   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Изменение эллипсометрических параметров монокристаллов Si(III)при удалении адсорбата с их поверхности : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2003. - 13 с. : ил.
ГРНТИ 29.19
47
УДК:621.382

Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР ---
Ключевые слова: эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа: Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\ --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)

Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)

   621.38
   Э526
   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Связь изменений параметров эллипсометрии и поверхностного потенциального барьера монокристаллов Si(111) в области субмонослойных покрытий : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2004. - 15 с. : ил.
ГРНТИ 29.19
УДК:621.382

Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР ---
Ключевые слова: эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа: Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\ --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)

Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)