Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 12
1. 637.5
Ф505
Физические методы контроля сырья и продуктов в мясной промышленности (лабораторный практикум) : Учеб. пособие для вузов по напр. 260300 "Технология сырья и продуктов животного происхождения" для спец. 260301 "Технология мяса и мясн. продуктов" и 240900 "Биотехнология" для спец. 240902 "Пищ. биотехнология" / Л.В. Антипова [и др.]. - СПб. : ГИОРД, 2006. - 197 с. : ил. - ISBN 5-98879-009-7 : 401.00 р., 342.90 р., 456.72 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 65.59.03
УДК:637.5.04/.07(075.8)
Ключевые слова: методы контроля мясного сырья -- физические методы контроля сырья -- контроль мясных продуктов -- абсорбционная спектроскопия -- спектрофотометрическое измерение цвета -- микроскопические методы анализа мяса -- анализы активности воды -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноспектральные анализы -- анализы реологических характеристик -- лабораторные практикумы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Антипова, Людмила Васильевна --- Безрядин, Николай Николаевич --- Титов, Сергей Александрович --- Агапов, Б.Л. --- Лавренов, А.Л. ---
Экземпляры всего: 16
Mесто хранения: чз (5), аб (11)
Свободны: чз (5), аб (11)
Найти похожие
Ф505
Физические методы контроля сырья и продуктов в мясной промышленности (лабораторный практикум) : Учеб. пособие для вузов по напр. 260300 "Технология сырья и продуктов животного происхождения" для спец. 260301 "Технология мяса и мясн. продуктов" и 240900 "Биотехнология" для спец. 240902 "Пищ. биотехнология" / Л.В. Антипова [и др.]. - СПб. : ГИОРД, 2006. - 197 с. : ил. - ISBN 5-98879-009-7 : 401.00 р., 342.90 р., 456.72 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 65.59.03
УДК:637.5.04/.07(075.8)
Ключевые слова: методы контроля мясного сырья -- физические методы контроля сырья -- контроль мясных продуктов -- абсорбционная спектроскопия -- спектрофотометрическое измерение цвета -- микроскопические методы анализа мяса -- анализы активности воды -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноспектральные анализы -- анализы реологических характеристик -- лабораторные практикумы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Антипова, Людмила Васильевна --- Безрядин, Николай Николаевич --- Титов, Сергей Александрович --- Агапов, Б.Л. --- Лавренов, А.Л. ---
Экземпляры всего: 16
Mесто хранения: чз (5), аб (11)
Свободны: чз (5), аб (11)
Найти похожие
2. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
3. 669.017
М54
Металловедение и термическая обработка стали и чугуна [Текст] : справочник: В 3-х т. / Под ред. А.Г. Рахштадта и др. - М. : Интермет Инжиниринг, 2004 - 2007.
Т. 1 : Методы испытаний и исследования : . - 2004. - 687 с. : ил. - ISBN 5-89594-103-6 : 1320 р.
ГРНТИ 53.49
81.09.81
УДК:669.017(035)620.18(035)
Ключевые слова: металловедение -- термическая обработка стали -- термическая обработка чугуна -- измерение качества металлов -- механические свойства металлов -- испытания металлов -- твердость металлов -- испытания на растяжение -- динамические испытания -- циклические испытания -- сопротивление разрушению -- износостойкость -- жаропрочность -- коррозия металлов -- кавитационная стойкость -- методы исследований -- упругость металлов -- стереология -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- мессбауэровская спектроскопия -- радиоспектроскопия -- справочники
Доп.точки доступа: Рахштадт, Александр Григорьевич \ред.\ --- Капуткина, Людмила Михайловна \ред.\ --- Прокошкин, Сергей Дмитриевич \ред.\ --- Супов, Александр Владимирович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
М54
Металловедение и термическая обработка стали и чугуна [Текст] : справочник: В 3-х т. / Под ред. А.Г. Рахштадта и др. - М. : Интермет Инжиниринг, 2004 - 2007.
Т. 1 : Методы испытаний и исследования : . - 2004. - 687 с. : ил. - ISBN 5-89594-103-6 : 1320 р.
ГРНТИ 53.49
81.09.81
УДК:669.017(035)620.18(035)
Ключевые слова: металловедение -- термическая обработка стали -- термическая обработка чугуна -- измерение качества металлов -- механические свойства металлов -- испытания металлов -- твердость металлов -- испытания на растяжение -- динамические испытания -- циклические испытания -- сопротивление разрушению -- износостойкость -- жаропрочность -- коррозия металлов -- кавитационная стойкость -- методы исследований -- упругость металлов -- стереология -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- мессбауэровская спектроскопия -- радиоспектроскопия -- справочники
Доп.точки доступа: Рахштадт, Александр Григорьевич \ред.\ --- Капуткина, Людмила Михайловна \ред.\ --- Прокошкин, Сергей Дмитриевич \ред.\ --- Супов, Александр Владимирович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
4. 543
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
5. 620.1
Б28
Батаев, Владимир Андреевич.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия ---Ключевые слова: структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Б28
Батаев, Владимир Андреевич.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
6. 621.38
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
7. 6П3.4
И328
Избранные методы исследования в металловедении : научное издание / Под ред. Г.-Й. Хунгера ; Пер. с нем. А. К. Белявского, А. А. Гусовского, А. А. Шарапова ; Под ред. Ю.В. Мойша [и др.]. - М. : Металлургия, 1985. - 414 с. : ил. - 4 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: методы исследования металлов -- структуры материалов -- свойства материалов -- термодинамические исследования -- количественная металлография -- рентгеноструктурные анализы -- дифракции нейтронов -- просвечивающая электронная микроскопия -- рентгеноспектральные микроанализы -- растровая электронная микроскопия -- масс-спектрометрия -- ионные микроанализы -- фотоэлектронная спектроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- мессбауэровская спектроскопия -- аннигиляция позитронов
Доп.точки доступа: Хунгер, Г.-Й. \ред.\ --- Белявский, А.К. \пер.\ --- Гусовский, А.А. \пер.\ --- Шарапов, А.А. \пер.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
И328
Избранные методы исследования в металловедении : научное издание / Под ред. Г.-Й. Хунгера ; Пер. с нем. А. К. Белявского, А. А. Гусовского, А. А. Шарапова ; Под ред. Ю.В. Мойша [и др.]. - М. : Металлургия, 1985. - 414 с. : ил. - 4 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: методы исследования металлов -- структуры материалов -- свойства материалов -- термодинамические исследования -- количественная металлография -- рентгеноструктурные анализы -- дифракции нейтронов -- просвечивающая электронная микроскопия -- рентгеноспектральные микроанализы -- растровая электронная микроскопия -- масс-спектрометрия -- ионные микроанализы -- фотоэлектронная спектроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- мессбауэровская спектроскопия -- аннигиляция позитронов
Доп.точки доступа: Хунгер, Г.-Й. \ред.\ --- Белявский, А.К. \пер.\ --- Гусовский, А.А. \пер.\ --- Шарапов, А.А. \пер.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
8. 6П3.4
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
9. 6П3.4
Э625
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; Пер. с нем. Б. Е. Левина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 231 с. : ил. - 1.60 р.
ГРНТИ 53.49.09
УДК:669.018(035)
Ключевые слова: электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- разрушение металлов -- износ металлов -- справочники
Доп.точки доступа: Клингеле, Г. --- Левин, Б.Е. \пер.\ --- Бернштейн, Марк Львович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (2), аб (1)
Свободны: кх (2), аб (1)
Найти похожие
Э625
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; Пер. с нем. Б. Е. Левина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 231 с. : ил. - 1.60 р.
ГРНТИ 53.49.09
УДК:669.018(035)
Ключевые слова: электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- разрушение металлов -- износ металлов -- справочники
Доп.точки доступа: Клингеле, Г. --- Левин, Б.Е. \пер.\ --- Бернштейн, Марк Львович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (2), аб (1)
Свободны: кх (2), аб (1)
Найти похожие
10. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
11. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
12. 537
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие