548 Г687 Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р. Рек. УМО по образованию в обл. металлургии ГРНТИ 38.41.21 УДК:548(075.8) Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. --- Экземпляры всего: 10 Mесто хранения: чз (3), аб (7) Свободны: чз (3), аб (7) |
620.3 Г611 Головин, Юрий Иванович. Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р. ГРНТИ 81.09 УДК:620.3 Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
531.7 Л66 Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р. ГРНТИ 90.27 81.09.03 УДК:531.7(075.8)620.3(075.8) Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: чз (2) Свободны: чз (1) |
6.06 О-753 Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:620.18 Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |
6П4.51 М54 Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - . Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р. ГРНТИ 53.49.21 УДК:669.017(035)621.785(035) Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ --- Экземпляры всего: 5 Mесто хранения: кх (4), аб (1) Свободны: кх (4), аб (1) |
6п3.4 В558 Вишняков, Яков Дмитриевич. Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р. ГРНТИ 53.49.19 УДК:669.017 Ключевые слова: структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П3.4 Б258 Баррет, Чарльз С. Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - . Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р. ГРНТИ 53.49 УДК:669.017 Ключевые слова: структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры Доп.точки доступа: Массальский, Т. Б. --- Бернштейн, А. М. \пер.\ --- Добаткин, С. В. \пер.\ --- Бернштейн, М. Л. \ред.\ --- Экземпляры всего: 3 Mесто хранения: кх (3) Свободны: кх (3) |
6П3.4 П75 Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - . Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р. ГРНТИ 53.49 УДК:669.017 Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П3.4 Э455 Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р. ГРНТИ 29.35.43 53.49.19 УДК:669.017(035) Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П3.4 К825 Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : Учеб. для вузов по спец. "Физика металлов" и "Металловедение, оборуд. и технология терм. обраб. металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 632 с. : ил. - 1.40 р. Допущено МВиССО СССР ГРНТИ 53.49.13 УДК:669.017(075.8) Ключевые слова: кристаллография -- рентгенография -- строение кристаллов -- рентгеновские спектры -- рассеивание рентгеновских лучей кристаллами -- диффузное рассеивание лучей -- рентгеноструктурный анализ -- рентгенографический анализ сплавов -- дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия -- учебники Доп.точки доступа: Уманский, Яков Семенович --- Скаков, Юрий Александрович --- Иванов, Александр Николаевич --- Расторгуев, Леонид Николаевич --- Экземпляры всего: 4 Mесто хранения: кх (2), аб (2) Свободны: кх (2), аб (2) |
6П3.4 Э625 Энгель, Л. Растровая электронная микроскопия. Разрушение : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; Пер. с нем. Б. Е. Левина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 231 с. : ил. - 1.60 р. ГРНТИ 53.49.09 УДК:669.018(035) Ключевые слова: электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- разрушение металлов -- износ металлов -- справочники Доп.точки доступа: Клингеле, Г. --- Левин, Б.Е. \пер.\ --- Бернштейн, Марк Львович \ред.\ --- Экземпляры всего: 3 Mесто хранения: кх (2), аб (1) Свободны: кх (2), аб (1) |
57 Ф824 Фрайфелдер, Дэвид. Физическая биохимия : Применение физико-химических методов в биохимии и молекулярной биологии / Д. Фрайфелдер ; пер. с англ. Е. С. Громовой, С. В. Яроцкого ; под ред. З. А. Шабаровой. - Москва : Мир, 1980. - 582 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 562-572. - 3 р., 250 р. ГРНТИ 31.27 УДК:577.3 Ключевые слова: Физическая биохимия -- Макромолекулы -- Оптическая микроскопия -- Электронная микроскопия -- Живые системы -- Молекулярное изучение -- Лабораторные методы исследований -- Радиоактивные метки -- Авторадиография -- Мембранная фильтрация -- Диализ -- Разделение веществ -- Идентификация веществ -- Хроматография -- Электрофорез -- Иммунологические методы исследований -- Гидродинамические методы исследований -- Спектроскопические методы исследований -- Седиментация -- Парциальный удельный объем -- Коэффициент диффузии -- Вязкость -- Абсорбционная спектроскопия -- Флуоресцентная спектроскопия -- Дисперсия оптического вращения -- Круговой дихроизм -- Ядерный магнитный резонанс Доп.точки доступа: Шабарова, Зоя Алексеевна \ред.\ --- Громова, Е. С. \пер.\ --- Яроцкий, С. В. \пер.\ --- Экземпляры всего: 3 Mесто хранения: кх (1), зал ППС (2) Свободны: кх (1), зал ППС (2) |
57А М545 Методы общей бактериологии / под общ. ред. Ф. Гердхарт ; пер. с англ. Е. Н. Кондратьевой, Л. В. Калакуцкого. - Москва : Мир, 1983 - . Т. 1. - 1983. - 536 с. - 2.60 р., 150 р. ГРНТИ 34.27 УДК:57А Ключевые слова: бактериология -- световая микроскопия -- методы идентификации в световой микроскопии -- электронная микроскопия -- клеточные фракции -- культивирование микроорганизмов -- чистые культуры -- твердые культуры -- жидкие культуры -- измерение роста микроорганизмов -- хранение микроорганизмов Доп.точки доступа: Герхарт, Ф. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (1), зал ППС (1) Свободны: кх (1), зал ППС (1) |
57А У-359 Уикли, Б. Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц. ГРНТИ 29.35.43 УДК:57А Ключевые слова: Электронная микроскопия Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
543 А64 Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии). Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р. ГРНТИ 31.19 УДК:543(075.8) Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. --- Экземпляры всего: 15 Mесто хранения: чз (3), аб (12) Свободны: чз (3), аб (12) |
537 Р245 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - . Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:537543 Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |
537 Р245 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - . Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:537543 Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |