Поисковый запрос: (<.>U=621.382<.>) |
Общее количество найденных документов : 58
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| 621.38
А90
Асалханов, Юлий Иннокентьевич.
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : монография / Ю. И. Асалханов ; Бурят. науч. центр СО РАН, Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т. - Улан-Удэ : БНЦ СО РАН, 1998. - 208 с. - Библиогр.: с. 201-205 (38 назв.). - ISBN 5-89230-056-0 : 25 р. Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрия субмонослойных покрытий--Монографии
Кл.слова (ненормированные):
Эллипсометрия субмонослойных покрытий -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностный слой твердых тел -- монографии ВСГТУ
Доп.точки доступа:
Бурятский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук (Улан-Удэ); Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 3
чз (1), зал ППС (2)
Свободны: чз (1), зал ППС (2)
Найти похожие
|
2.
| 621.3
Э526
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : Отчет о НИР (промежут.) / Рук. НИР Г.-Н. Б. Дандарон.-N ГР 02.200.1 06296 ; ВСГТУ. - Улан-Удэ, 2000. - 32 с. : ил. - Б.ц. Рубрики: Электроника полупроводниковая--Отчеты о НИР
Физика твердого тела--Эллипсометрия
Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковая электроника -- Эллипсометрия субмонослойных порытий -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностный слой твердых тел -- Потенциальный барьер -- Монослой -- Вольт-амперная характеристика -- Медленные электроны -- Адсорбат -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа:
Дандарон, Г.-Н.Б.; ВСГТУ
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие
|
3.
| 621.38
Э526
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : Отчет о НИР (промежуточ.) / ВСГТУ.- № ГР 012000110362 ; Рук. НИР А.П. Кудряш. - Улан-Удэ, 2001. - 13 с. : ил. - Б.ц. Рубрики: Электроника полупроводниковая--Отчеты о НИР
Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
Эллипсометрия -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностные слои металлов -- Эллипсометрия субмонослойных покрытий -- Уровень Ферми -- Потенциальные барьеры -- Электронное облако -- Работа выхода -- Отчеты о НИР
Доп.точки доступа:
Кудряш, А.П.; ВСГТУ
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие
|
4.
| 621.38
В152
Валенко, Валентин Стефанович.
Полупроводниковые приборы и основы схемотехники электронных устройств : научное издание / В.С. Валенко; Под ред. А.А. Ровдо. - москва : Додэка-XXI, 2001. - 367 с. : ил. - ISBN 5941200498 : 184.80 р. Рубрики: Электроника--Полупроводниковые приборы--Схемотехника
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- схемотехника -- электрические сигналы -- электронные усилители -- электронно-дырочные переходы -- полупроводниковые диоды -- биполярные транзисторы -- однопереходные транзисторы -- полевые транзисторы -- тиристоры -- многослойные полупроводниковые структуры -- варисторы -- оптоэлектронные приборы -- рабочие точки аналоговых звеньев -- одиночные усилительные каскады -- графоаналитический метод анализа -- усилители -- теория обратной связи -- аналоговые интегральные структуры -- частотная коррекция
Экземпляры всего: 2
чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
|
5.
| 621.38
Э526
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Изменение работы выхода и прозрачности потенциального барьера монокристаллов W(100) и GaAs(110) при удалении естественного окисла с их поверхности : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362 ; Рук. темы Ю. И. Асалханов. - Улан-Удэ, 2002. - 16 с. - Рубрики: Электроника полупроводниковая--Эллипсометрия--Отчеты о НИР
Физика твердого тела--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- монокристаллы -- уровень Ферми -- работа выхода -- прозрачность потенциального барьера -- W(100) -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие
|
6.
| 621.38
Э526
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Изменение эллипсометрических параметров монокристаллов Si(III)при удалении адсорбата с их поверхности : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2003. - 13 с. : ил. - Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие
|
7.
| 621.38
Г175
Гальперин, Михаил Владимирович.
Практическая схемотехника в промышленной автоматике / М. В. Гальперин. - Москва : Энергоатомиздат, 1987. - 320 с. : ил. - 9.14 р., 80 р. Рубрики: Автоматика--Схемотехника
Кл.слова (ненормированные):
промышленная автоматика -- схемотехника -- типовые схемные конфигурации -- отрицательная обратная связь -- операционные усилители -- токоразностные усилители -- преобразователи аналоговых сигналов -- измерительные усилители -- компараторы -- мультивибраторы -- генераторы колебаний -- активные фильтры -- схемы фазовой автоподстройки частоты -- микропроцессорные устройства -- источники питания -- коммутаторы -- преобразователи информации -- электромагнитная совместимость -- помехоустойчивость -- генераторы колебаний -- таймеры -- подавление помех -- гальваническое разделение -- аппаратурная структура систем автоматики
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
|
8.
| 621.38
Э526
Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Связь изменений параметров эллипсометрии и поверхностного потенциального барьера монокристаллов Si(111) в области субмонослойных покрытий : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2004. - 15 с. : ил. - Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР
Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие
|
9.
| 621.38
М267
Маркировка электронных компонентов : научное издание. - 11-е изд., стер. - М. : ДОДЭКА-XXI, 2007. - 208 с. : ил. - ISBN 978-5-94120-119-8 : 75.00 р. Рубрики: Электроника--Маркировка электронных компонентов
Кл.слова (ненормированные):
электроника -- маркировка электронных компонентов -- пассивные компоненты
Экземпляры всего: 2
чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
|
10.
| 6Ф2.1
А16
Абрайтис, Людвикас Блажеевич.
Автоматизация проектирования топологии цифровых интегральных микросхем : производственно-практическое издание / Л. Б. Абрайтис. - М. : Радио и связь, 1985. - 198 с. : ил. - 0.55 р. Рубрики: Микроэлектроника--Интегральные микросхемы
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- цифровые интегральные микросхемы -- топология микросхем -- проектирование топологии микросхем -- трассировка соединений -- планаризация -- сжатие рисунка топологии
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
|
|
|
|
Книги
Стандартный