Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Адсорбат<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   621.3
   Э526


   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел : Отчет о НИР (промежут.) / Рук. НИР Г.-Н. Б. Дандарон.-N ГР 02.200.1 06296 ; ВСГТУ. - Улан-Удэ, 2000. - 32 с. : ил. - Б.ц.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Электроника полупроводниковая--Отчеты о НИР
   Физика твердого тела--Эллипсометрия

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковая электроника -- Эллипсометрия субмонослойных порытий -- Субмонослойные покрытия -- Приповерхностный слой твердых тел -- Потенциальный барьер -- Монослой -- Вольт-амперная характеристика -- Медленные электроны -- Адсорбат -- отчеты о НИР


Доп.точки доступа:
Дандарон, Г.-Н.Б.; ВСГТУ
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие

2.
   621.38
   Э526


   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Изменение эллипсометрических параметров монокристаллов Si(III)при удалении адсорбата с их поверхности : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2003. - 13 с. : ил. -
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР


Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие

3.
   621.38
   Э526


   
    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Связь изменений параметров эллипсометрии и поверхностного потенциального барьера монокристаллов Si(111) в области субмонослойных покрытий : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2004. - 15 с. : ил. -
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР


Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие

 
ссылка на мобильную версию электронного каталога