543
   Н804
    Нолтинг, Б.
    Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8

Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа--Хроматография --- Микроскопия ---
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)

   620.1
   Б28
    Батаев, Владимир Андреевич.
    Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия ---
Ключевые слова: структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

   531.7
   Л66
    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)

Рубрики: Нанотехнологии--Учебные пособия --- Метрология--Учебные пособия ---
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)