Электронный каталог
Научной библиотеки ВСГУТУ

логотип

Поиск ведется по:

Отсортировать найденные документы по: авторузаглавиюгоду изданиятипу документа

Общее количество найденных документов : 66

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.    579
   Л125

   
    Лабораторный практикум по общей микробиологии : практикум / Н.Б. Градова, Е.С. Бабусенко, И.Б. Горнова и др. ; РХТУ им. Д.И. Менделеева. - москва : [б. и.], 1999. - 130 с. : ил. - 36.00 р.
ГРНТИ 34.27
УДК:579(075.8)
Ключевые слова: Микроскопия -- Морфология микроорганизмов -- Строение клеток микроорганизмов -- Посев микроорганизмов -- Микроорганизмы -- лабораторные практикумы
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие
2.    637.5
   Б45

    Бем, Рудольф.
    Микроскопия мяса и сырья животного происхождения : научное издание / Р. Бем, В. Плева ; Пер. с чешск. М.И. Вольшанского; Под ред. Г.Г. Тинякова. - 2-е изд., перераб. и доп. - москва : Пищевая промышленность, 1964. - 335 с. : ил. - 4.63 р.
ГРНТИ 65.59.03
УДК:637.5.04/.07

Рубрики: Мясо--Микроскопия ---
Ключевые слова: Мясо -- Мясное сырье -- Мясопродукты -- Микроскопия мяса -- Гистология мяса
Доп.точки доступа: Плева, Владимир --- Тиняков, Г.Г. \ред. - редактор.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие
3.    548
   Г687

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии
ГРНТИ 38.41.21
УДК:548(075.8)
Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)

Найти похожие
4.    541.1
   М322

   
    Массовая кристаллизация и определение дисперсионных характеристик микрокристаллов галогенидов серебра : Учеб. пособие для вузов по спец. 010400 "Физика" для спец. "Хим. физика" / Т.А. Ларичев [и др.] ; Кемеровский гос. ун-т. - Изд. 2-е, перераб. и доп. - Кемерово : [б. и.], 2004. - 87 с. : ил. - ISBN 5-8353-0274-6 : 148 р.
Рек. УМЦ
ГРНТИ 31.15.29
УДК:541.14(075.8)77(075.8)
Ключевые слова: массовая кристаллизация -- дисперсионная характеристика микрокристаллов -- галогениды серебра -- микрокристаллы галогенидов серебра -- галогенидосеребряные фотографические эмульсии -- фотографические эмульсии -- фотоэмульсии -- галогенидосеребряные пластинчатые микрокристаллы -- микрокристаллы мелкозернистой эмульсии -- турбидиметрический метод -- частицы дисперсных систем -- крупнозернистые фотографические эмульсии -- седиментационный анализ -- оптическая микроскопия -- фотоэмульсионные микрокристаллы -- электронно-микроскопические исследования микрокристаллов -- гранулометрический анализ фотоэмульсионных микрокристаллов -- дисперсионный анализ фотоэмульсионных микрокристаллов -- химическая сенсибилизация -- полив эмульсии -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Ларичев, Тимофей Альбертович --- Титов, Федор Вадимович --- Сечкарев, Борис Алексеевич --- Сотникова, Лариса Владимировна --- Кемеровский гос. ун-т

Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие
5.    637.5
   Ф505

   
    Физические методы контроля сырья и продуктов в мясной промышленности (лабораторный практикум) : Учеб. пособие для вузов по напр. 260300 "Технология сырья и продуктов животного происхождения" для спец. 260301 "Технология мяса и мясн. продуктов" и 240900 "Биотехнология" для спец. 240902 "Пищ. биотехнология" / Л.В. Антипова [и др.]. - СПб. : ГИОРД, 2006. - 197 с. : ил. - ISBN 5-98879-009-7 : 401.00 р., 342.90 р., 456.72 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 65.59.03
УДК:637.5.04/.07(075.8)
Ключевые слова: методы контроля мясного сырья -- физические методы контроля сырья -- контроль мясных продуктов -- абсорбционная спектроскопия -- спектрофотометрическое измерение цвета -- микроскопические методы анализа мяса -- анализы активности воды -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноспектральные анализы -- анализы реологических характеристик -- лабораторные практикумы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Антипова, Людмила Васильевна --- Безрядин, Николай Николаевич --- Титов, Сергей Александрович --- Агапов, Б.Л. --- Лавренов, А.Л. ---
Экземпляры всего: 16
Mесто хранения: чз (5), аб (11)
Свободны: чз (5), аб (11)

Найти похожие
6.    615
   К493

   
    Клинико-лабораторные аналитические технологии и оборудование : Учеб. пособие для сред. проф. образования / Под ред. В.В. Меньшикова. - М. : Академия, 2007. - 236 с. : ил. - (Среднее профессиональное образование) (Здравоохранение). - ISBN 978-5-7695-3394-5 : 267.34 р., 284.27 р.
Допущено МО РФ
ГРНТИ 76.13.33
УДК:615.4(075.32)
Ключевые слова: медицинское оборудование -- клинико-диагностические лаборатории здравоохранения -- физико-химические методы -- лабораторная аналитика -- фотометрия -- нефелометрия -- люминесцентный анализ -- эмиссионные спектральные методы -- потенциометрия -- полярография -- кулонометрия -- кондуктометрия -- субстратно-селективные электроды -- физико-биологические технологии -- ферменты -- лигандные технологии -- молекулярно-биологические технологии -- микроскопия -- анализ по месту лечения -- автоматизация клинико-диагностических лабораторных исследований -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Меньшиков, Вадим Владимирович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 17
Mесто хранения: чз (3), аб (14)
Свободны: чз (3), аб (14)

Найти похожие
7.    620.1
   Б874

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)

Найти похожие
8.    681.7
   Е302

    Егорова, Ольга Владимировна.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О.В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-129-1 : 1172 р.
ГРНТИ 81.37
УДК:681.7
Ключевые слова: техническая микроскопия -- микроскопы -- металлографические микроскопы -- поляризационные микроскопы -- стереоскопические микроскопы -- специализированные микроскопы -- люминесцентные микроскопы -- методы исследования в микроскопии -- контрастирование -- стандарты микроскопии -- контроль качества изображения -- оценка качества изображения объективов микроскопов
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: зал ППС (1), чз (1)
Свободны: зал ППС (1), чз (1)

Найти похожие
9.    620.3
   Г611

    Головин, Юрий Иванович.
    Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.3

Рубрики: Нанотехнологии ---
Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)

Найти похожие
10.    669.017
   М54

    Металловедение и термическая обработка стали и чугуна [Текст] : справочник: В 3-х т. / Под ред. А.Г. Рахштадта и др. - М. : Интермет Инжиниринг, 2004 - 2007.
   Т. 1 : Методы испытаний и исследования : . - 2004. - 687 с. : ил. - ISBN 5-89594-103-6 : 1320 р.
ГРНТИ 53.49
81.09.81
УДК:669.017(035)620.18(035)
Ключевые слова: металловедение -- термическая обработка стали -- термическая обработка чугуна -- измерение качества металлов -- механические свойства металлов -- испытания металлов -- твердость металлов -- испытания на растяжение -- динамические испытания -- циклические испытания -- сопротивление разрушению -- износостойкость -- жаропрочность -- коррозия металлов -- кавитационная стойкость -- методы исследований -- упругость металлов -- стереология -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- мессбауэровская спектроскопия -- радиоспектроскопия -- справочники
Доп.точки доступа: Рахштадт, Александр Григорьевич \ред.\ --- Капуткина, Людмила Михайловна \ред.\ --- Прокошкин, Сергей Дмитриевич \ред.\ --- Супов, Александр Владимирович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)

Найти похожие
11.    531.7
   У137

    Уайтхауз, Дэвид.
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы : [учеб.-справ. рук-во] / Д. Уайтхауз ; Пер. с англ. А.Я. Григорьева, Д.В. Ткачука; Под ред. Н.К. Мышкина. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471 с. : ил. - ISBN 978-5-91559-023-5 : 990 р.
ГРНТИ 90
УДК:531.7

Рубрики: Метрология ---
Ключевые слова: метрология поверхностей -- промышленные приборы -- шероховатость поверхности -- визуализация -- волнистость -- концепция базовой длины -- профильные параметры -- качество поверхности -- щуповые приборы -- оптические методы -- сканирующая микроскопия -- погрешности формы -- некруглость -- нецилиндричность -- несферичность -- измерительные приборы -- погрешности измерений -- калибровка приборов
Доп.точки доступа: Мышкин, Н.К. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: чз (2), зал ППС (1)
Свободны: чз (2), зал ППС (1)

Найти похожие
12.    615
   А406

    Акопян, Валентин Башкенович.
    Основы взаимодействия ультразвука с биологическими объектами: Ультразвук в медицине, ветеринарии и экспериментальной биологии : учеб. пособие для вузов по напр. подгот. "Биомед. техн." и "Биомед. инженерия" / В.Б. Акопян, Ю.А. Ершов ; Под ред. С.И. Щукина. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2005. - 223 с. : ил. - (Биомедицинская инженерия в техническом университете). - ISBN 5-7038-2597-0 : 79 р.
Рек. УМО
ГРНТИ 76.13.15
62
УДК:615.4(075.8)615.8(075.8)616-07(075.8)602(075.8)
Ключевые слова: ультразвук -- ультразвуковые методы диагностики -- ультразвуковые эхо-методы -- ультразвуковая цитолизометрия -- сонолюминесценция -- акустическая микроскопия -- ультразвуковая стимуляция -- ультразвуковая терапия -- ультразвук в хирургии -- фокусирование ультразвука -- ультразвук в биотехнологии -- эмульгирование -- диспергирование -- экстрагирование -- иммунологическая специфичность клеток -- ультразвук в фармации -- приготовление лекарств -- ультразвуковые аэрозоли -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Ершов, Юрий Алексеевич --- Щукин, С.И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)

Найти похожие
13.    681.7
   С381

    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Ключевые слова: аналитическая электронная микроскопия -- просвечивающие электронные микроскопы -- спектроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- электронные микроскопы -- монографии
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)

Найти похожие
14.    543
   Н804

    Нолтинг, Б.
    Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)

Найти похожие
15.    543
   Р494

    Рид, С. Дж.Б.
    Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Ключевые слова: электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)

Найти похожие
16.    543
   С423

   
    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие
17.    620.1
   К474

    Кларк, Эшли Р.
    Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Ключевые слова: микроскопические методы исследований -- исследования материалов -- оптическая микроскопия -- электромагнитное излучение -- микроскопы -- цифровые изображения -- обработка изображений -- микроскопия отраженного света -- 3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия -- оптические методы исследований -- электромагнитные методы исследований
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)

Найти похожие
18.    620.1
   Б28

    Батаев, Владимир Андреевич.
    Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)
Ключевые слова: структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие
19.    621.38
   П764

   
    Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ

Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)

Найти похожие
20.    531.7
   Л66

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)

Найти похожие