Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 4
1. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
2. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
3. 537
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
4. 537
Ш615
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского ; под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537
Ключевые слова: электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Розенфельд, А. М. \пер.\ --- Спасский, М. Н. \пер.\ --- Рожанский, В. Н. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Ш615
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского ; под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537
Ключевые слова: электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Розенфельд, А. М. \пер.\ --- Спасский, М. Н. \пер.\ --- Рожанский, В. Н. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие