Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
 Найдено в других БД:Книги (53)Статьи (116)Электронные издания ВСГУТУ (1)Статьи преподавателей ВСГУТУ (3)Вестник ВСГУТУ (11)Материалы конференций ВСГУТУ (7)Авторефераты (3)Статьи о Бурятии (17)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=концентрация<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   66
   А673


   
    ГОСТ 29232-91 (ИСО 4311-79). Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования [] : метод определения поверхностного натяжения с помощью пластины, скобы или кольца: Изд. офиц. - М. : Изд-во стандартов, 2004. - 6 с. : ил. - (Межгосударственный стандарт). -
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Химическая промышленность--Поверхностно-активные вещества--ГОСТы
Кл.слова (ненормированные):
поверхностно-активные вещества неионногеные -- поверхностно-активные вещества анионные -- анионные поверхностно-активные вещества -- неионногенные поверхностно-активные вещества -- вещества поверхностно-активные -- критическая концентрация мицеллообразования -- методы определения поверхностного натяжения -- ГОСТ 29232-91 -- ИСО 4211-79

Экземпляры всего: 1
нтд (1)
Свободны: нтд (1)
Найти похожие

 
ссылка на мобильную версию электронного каталога