Р494 Рид, С. Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия Геология--Оптические методы анализа Кл.слова (ненормированные): электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ Экземпляры всего: 2 чз (1), зал ППС (1) Свободны: чз (1), зал ППС (1) |