Web ИРБИС

   621.38
   Э526


    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Изменение эллипсометрических параметров монокристаллов Si(III)при удалении адсорбата с их поверхности : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2003. - 13 с. : ил. -

ГРНТИ	29.19	47
УДК	621.382

Рубрики: Физика твердого тела--Эллипсометрические параметры монокристаллов--Отчеты о НИР
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия субмонослойных покрытий -- приповерхностный слой твердых тел -- эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III) -- монокристаллы Si(III) -- адсорбат субмонослойного диапазона -- поляризация света -- отжиг монокристаллов -- отчеты о НИР

Доп.точки доступа:
Асалханов, Ю. И. \рук. работы.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)

   621.38
   Э526


    Эллипсометрия субмонослойных покрытий и приповерхностный слой твердых тел. Связь изменений параметров эллипсометрии и поверхностного потенциального барьера монокристаллов Si(111) в области субмонослойных покрытий : Отчет о НИР (промежут.) / ВСГТУ ; Рук. темы Ю.И. Асалханов; ВСГТУ.- № ГР 01.200.112362. - Улан-Удэ, 2004. - 15 с. : ил. -

ГРНТИ	29.19
УДК	621.382

request_decrypt("(<.>K=эллипсометрические параметры монокристаллов Si(III)<.>)","");