У137 Уайтхауз, Дэвид. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы : [учеб.-справ. рук-во] / Д. Уайтхауз ; Пер. с англ. А.Я. Григорьева, Д.В. Ткачука; Под ред. Н.К. Мышкина. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471 с. : ил. - ISBN 978-5-91559-023-5 : 990 р.
Кл.слова (ненормированные): метрология поверхностей -- промышленные приборы -- шероховатость поверхности -- визуализация -- волнистость -- концепция базовой длины -- профильные параметры -- качество поверхности -- щуповые приборы -- оптические методы -- сканирующая микроскопия -- погрешности формы -- некруглость -- нецилиндричность -- несферичность -- измерительные приборы -- погрешности измерений -- калибровка приборов Доп.точки доступа: Мышкин, Н.К. \ред.\ Учебная литература: ЭтФ / ЭВС / 11.03.01 / Оптические методы и средства обработки информации / 6 / Осн ЭтФ / ЭВС / 09.03.01 / Оптические методы и средства обработки информации / 6 / Осн Экземпляры всего: 3 чз (2), зал ППС (1) Свободны: чз (2), зал ППС (1) |
Д834 Дунин-Барковский, Игорь Валерьянович. Измерения и анализ шероховатости, волнистости и некруглости поверхности : научное издание / И. В. Дунин-Барковский, А. Н. Карташова. - М. : Машиностроение, 1978. - 231 с. : ил. - 1.70 р.
Кл.слова (ненормированные): шероховатость поверхностей -- волнистость поверхностей -- некруглость поверхностей -- измерения поверхностей -- физико-технологическая теория неровностей поверхности -- эксплуатационная роль неровностей -- технологическое происхождение неровностей Доп.точки доступа: Карташова, Ангелина Николаевна Экземпляры всего: 1 кх (1) Свободны: кх (1) |