Н766 Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия : справочник: В 3-х ч. - СПб. : Профессионал, 2004 - 2007. Ч. III / Ред. тома И.П. Калинкин, В.И. Мосичев, Г.В. Сайдов. - 2007. - 689 с. : ил. - ISBN 5-98371-002-8 : 4917.00 р.
Рубрики: Аналитическая химия--Справочники Кл.слова (ненормированные): спектроскопический анализ -- методы спектроскопического анализа -- рентгеновская спектроскопия -- ретгенофлуоресцентный анализ -- электронно-зондовый микроанализ -- дифракционный анализ -- Оже-электронный метод -- справочники Доп.точки доступа: Калинкин, И.П. \ред.\; Мосичев, В.И. \ред.\; Сайдов, Г.В. \ред.\ Экземпляры всего: 1 чз (1) Свободны: чз (1) |
Б874 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р. Рек. Ин-том хим. физики РАН
Микроскопия--Учебные пособия Кл.слова (ненормированные): микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\ Учебная литература: МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп Экземпляры всего: 2 чз (2) Свободны: чз (2) |
Г611 Головин, Юрий Иванович. Введение в нанотехнику [] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
Кл.слова (ненормированные): нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция Учебная литература: МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Физико-химия наноматериалов, нанотехнологии / 5 / Осн Экземпляры всего: 1 кх (1) Свободны: кх (1) |
Ж422 Жданов, Г. С. Дифракционный и резонансный структурный анализ. Рентгено- , электроно- ,нейтроно- , мессбауэрография и мессбауэровская спектроскопия : учебное пособие для вузов / Г. С. Жданов, А. С. Илюшин, С. В. Никитина ; под общ. ред. Г. С. Жданова. - Москва : Наука, 1980. - 254 с. : ил. - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): теоретическая физика -- спектроскопия -- дифракционный анализ -- резонансный анализ -- рентгеноспектроскопия -- электронная спектроскопия -- нейтронная спектроскопия -- мессбауэрография -- мессбауэровская спектроскопия -- учебные пособия Доп.точки доступа: Илюшин, А. С.; Никитина, С. В.; Жданов, Г. С. \ред.\ Экземпляры всего: 1 кх (1) Свободны: кх (1) |