Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=Микроэлектроника -- Контроль качества изделий -- Измерения -- Учебные пособия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   6П2.151
   И374


   
    Измерения и контроль в микроэлектронике : Учеб. пособие для спец. электрон. техники вузов / Под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высшая школа, 1984. - 367 с. : ил. - 1 р.
Допущено МВиССО СССР
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Микроэлектроника--Контроль качества изделий--Измерения--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- ИМС -- измерения ИМС -- контроль ИМС -- контрольно-измерительные операции -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Сазонов, Александр Афанасьевич \ред.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

 
ссылка на мобильную версию электронного каталога