Научная библиотека ВСГУТУ

   543
   С423


    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО

ГРНТИ	31.19	29.35.43
УДК	543.4(075.8)	621.385.8(075.8)

Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия
Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

   620.1
   Б28

    Батаев, Владимир Андреевич.
    Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО

ГРНТИ	81.09.81	81.81
УДК	620.1(075.8)	658.562.4(075.8)

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия
Контроль качества--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Батаев, Анатолий Андреевич; Алхимов, Анатолий Павлович
Учебная литература:
ИПИБ / СМУК / 27.04.01 / Методы и средства контроля качества продукции / 1 / Осн
Экземпляры всего: 1
чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

   6П2.151
   К646

    Конников, Самуил Гиршевич.
    Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов : производственно-практическое издание / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - М. : Энергия, 1978. - 136 с. : ил. - 0.40 р.

ГРНТИ	47.33
УДК	621.382.2/.3

Рубрики: Электроника полупроводниковая--Полупроводниковые материалы
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- электронно-зондовые исследования -- рентгеноспектральный микроанализ

Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   6П3.4
   П75

    Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
   Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Методы--Приборы--Монографии
Кл.слова (ненормированные):
металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии

Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ред.\; Колесников, В.Н. \авт. предисл.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

ссылка на мобильную версию электронного каталога

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска