Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
 Найдено в других БД:Статьи (1)Статьи преподавателей ВСГУТУ (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская дифракция<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   620.1
   Б874


    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия
   Микроскопия--Учебные пособия

Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие

 
ссылка на мобильную версию электронного каталога