Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=атомный спектральный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
   620.1
   Б28


    Батаев, Владимир Андреевич.
    Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия
   Контроль качества--Учебные пособия

Кл.слова (ненормированные):
структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Батаев, Анатолий Андреевич; Алхимов, Анатолий Павлович
Учебная литература:
ИПИБ / СМУК / 27.04.01 / Методы и средства контроля качества продукции / 1 / Осн
Экземпляры всего: 1
чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

 
ссылка на мобильную версию электронного каталога