Научная библиотека ВСГУТУ

   548
   Г687

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии

ГРНТИ	38.41.21
УДК	548(075.8)

Рубрики: Рентгенография--Электронография--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н.
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.04.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 2 / Осн
МСФ / ФИЗ / 22.03.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 8 / Осн
Экземпляры всего: 10
чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие

   620.1
   Б874

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН

ГРНТИ	81.09.81	29.35.43
УДК	620.179(075.8)	681.7(075.8)	621.385.8(075.8)

Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия
Микроскопия--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие

   620.3
   Г611

    Головин, Юрий Иванович.
    Введение в нанотехнику [] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.

ГРНТИ	81.09
УДК	620.3

Рубрики: Нанотехнологии
Кл.слова (ненормированные):
нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция

Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Физико-химия наноматериалов, нанотехнологии / 5 / Осн
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   531.7
   Л66

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.

ГРНТИ	90.27	81.09.03
УДК	531.7(075.8)	620.3(075.8)

Рубрики: Нанотехнологии--Учебные пособия
Метрология--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия

Учебная литература:
ИПИБ / СМУК / 27.03.01 / Конструирование и расчет средств измерений / 6 / Осн
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

   620.3
   Н347


    Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.

ГРНТИ	81.09.03
УДК	620.3(075.8)

Рубрики: Нанотехнологии--Учебники--Монографии
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии

Доп.точки доступа:
Келсалл, Р. \ред.\; Хамли, А. \ред.\; Геогеган, М. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / ФИЗ / 22.03.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 8 / Осн
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Физико-химия наноматериалов, нанотехнологии / 5 / Осн
Экземпляры всего: 2
кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие

   6.06
   О-753


    Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.18

Рубрики: Микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Грен, Дж.Дж. \ред.\; Гольдштейн, Дж.И. \ред.\; Джой, Д.К. \ред.\; Ромиг, А.Д. \ред.\
Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

   6П4.51
   М54

    Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - .
   Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р.

ГРНТИ	53.49.21
УДК	669.017(035)	621.785(035)

Рубрики: Металловедение--Термическая обработка --Исследования--Справочники
Кл.слова (ненормированные):
микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования

Доп.точки доступа:
Бернштейн, М.Л. \ред.\; Рахштадт, А.Г. \ред.\; Бокштейн, Б.С. \ред.\; Векслер, Ю.Г. \ред.\; Виноград, М.И. \ред.\; Дроздовский, Б.А. \ред.\
Экземпляры всего: 5
кх (4), аб (1)
Свободны: кх (4), аб (1)
Найти похожие

   6п3.4
   В558

    Вишняков, Яков Дмитриевич.
    Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.

ГРНТИ	53.49.19
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Кристаллы деформированные--Методы исследований
Кл.слова (ненормированные):
структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   6П3.4
   Б258

   Баррет, Чарльз С.
    Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
   Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Структуры металлов
Кл.слова (ненормированные):
структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры

Доп.точки доступа:
Массальский, Т. Б.; Бернштейн, А. М. \пер.\; Добаткин, С. В. \пер.\; Бернштейн, М. Л. \ред.\
Экземпляры всего: 3
кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие

10.

   6П3.4
   П75

    Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
   Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Методы--Приборы--Монографии
Кл.слова (ненормированные):
металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии

Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ред.\; Колесников, В.Н. \авт. предисл.\
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

1-10 11-20 21-28

Тематический навигатор

ссылка на мобильную версию электронного каталога

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска