Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
в найденном
Что искать:
 Найдено в других БД:Статьи (4)Электронные издания ВСГУТУ (5)Статьи преподавателей ВСГУТУ (1)Материалы конференций ВСГУТУ (2)Диссертации (1)Статьи о Бурятии (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-19 
1.
   531.7
   И374


   
    Измерение размеров шаблона на инструментальном микроскопе ММИ : Метод. рук-во к лаб. работе 8 по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация" / Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т ; сост. В. В. Садыков. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2005. - 12 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Метрология--Единство измерений--Лабораторные работы--Методические руководства
Кл.слова (ненормированные):
инструментальные микроскопы ММИ -- измерение размеров шаблонов -- лабораторные работы -- методические руководства -- учебные пособия

Перейти к внешнему ресурсу: полный текст

Доп.точки доступа:
Садыков, В. В. \сост.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 9
аб (6), кх (3)
Свободны: аб (6), кх (3)
Найти похожие

2.
   531.7
   О-624


   
    Определение линейных размеров тел с помощью штангенциркуля, микрометра и микроскопа : Метод. указание к выполн. лаб. работы / ВСГТУ ; Сост. Б.Д. Лыгденов, О.В. Старова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2006. - 10 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Метрология--Методические указания--Лабораторные работы--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
измерения -- измерительные инструменты -- штангенциркули -- микрометры -- микроскопы -- линейные размеры тел -- определение линейных размеров тел -- методические указания -- лабораторные работы -- учебные пособия

Перейти к внешнему ресурсу: полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу: полный текст в ЭБС bookonlime

Доп.точки доступа:
Лыгденов, Б.Д. \сост.\; Старова, О.В. \сост.\; ВСГТУ
Экземпляры всего: 6
кх (3), аб (3)
Свободны: кх (3), аб (3)
Найти похожие

3.
   620.1
   Б874


    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия
   Микроскопия--Учебные пособия

Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие

4.
   681.7
   Е302


    Егорова, Ольга Владимировна.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О.В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-129-1 : 1172 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Оптика--Микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
техническая микроскопия -- микроскопы -- металлографические микроскопы -- поляризационные микроскопы -- стереоскопические микроскопы -- специализированные микроскопы -- люминесцентные микроскопы -- методы исследования в микроскопии -- контрастирование -- стандарты микроскопии -- контроль качества изображения -- оценка качества изображения объективов микроскопов

Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего: 2
зал ППС (1), чз (1)
Свободны: зал ППС (1), чз (1)
Найти похожие

5.
   681.7
   С381


    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии
   Аналитическая химия--Оптические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
аналитическая электронная микроскопия -- просвечивающие электронные микроскопы -- спектроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- электронные микроскопы -- монографии


Доп.точки доступа:
Оикава, Тецуо
Экземпляры всего: 2
чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие

6.
   543
   С423


   
    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия
   Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 1
чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

7.
   620.1
   К474


    Кларк, Эшли Р.
    Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов
   Микроскопия--Микроскопические методы исследований

Кл.слова (ненормированные):
микроскопические методы исследований -- исследования материалов -- оптическая микроскопия -- электромагнитное излучение -- микроскопы -- цифровые изображения -- обработка изображений -- микроскопия отраженного света -- 3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия -- оптические методы исследований -- электромагнитные методы исследований


Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие

8.
   615
   М545


   
    Методическое указание для проведения практических занятий по дисциплине "Оборудование клинических центров" / С. С. Ямпилов [и др.] ; Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2010. - 48 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Медицинская техника--Методические указания
Кл.слова (ненормированные):
лабораторные медицинские устройства -- термостаты -- термометры -- термоконтакторы -- стерилизаторы -- лабораторные центрифуги -- электронные микроскопы -- гемоцитометры -- гемокоагулометры -- глюкоанализаторы -- автоматические цифровые осмометры -- ph-метры -- иономеры -- методические указания

Перейти к внешнему ресурсу: полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу: полный текст в bookonlime

Доп.точки доступа:
Ямпилов, С.С.; Хараев, Г.И.; Полякова, Л.Е.; Хантургаев, А.Г.; Цыбенов, Ж.Б.; Дондокова, Г.Ж.; Залуцкий, А.В.; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Учебная литература:
ИПИБ / БМТ ПАПП / 12.03.04 / Основы гемодиализа / 5 / Доп
Экземпляры всего: 5
кх (5)
Свободны: кх (5)
Найти похожие

9.
   6П4.6
   П 532


    Полунов, Ю. Л.
    Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в станкостроении : обзор / Ю.Л. Полунов. - М : [б. и.], 1971. - 136 с. : ил. - (Станкостроение). - 1.03 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Станкостроение--Обзоры
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы фотоэлектрические -- сканаторы -- автоколлиматоры -- автоколлиматорные приборы -- контрольно-измерительные инструменты -- обзоры

Экземпляры всего: 2
кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие

10.
   620.3
   С253


   
    Свойства и применение наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ
УДК
Рубрики: Нанотехнологии--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
наноматериалы -- фуллерены -- графены -- нанотрубки -- размерное квантование -- радиационная передача тепла -- бесконтактное трение -- металлические нанокластеры -- атомная оптика -- нанокомпозитные покрытия -- сверхтвердые нанокомпозиты -- оптические свойства наноматериалов -- микроструктурированные световоды -- нанодиагностика -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- учебные пособия


Доп.точки доступа:
Воронов, Владимир Кириллович; Ким, Де Чан; Янюшкин, Александр Сергеевич; Геращенко, Людмила Андреевна
Учебная литература:
МСФ / ТММС / 15.04.05 / Нанотехнологии и современные материалы в машиностроении / 1 / Доп
Экземпляры всего: 10
чз (3), аб (7)
Свободны: чз (2), аб (7)
Найти похожие

 1-10    11-19 
 
ссылка на мобильную версию электронного каталога