Авторизация
Фамилия
Пароль
Электронный каталог
Научной библиотеки ВСГУТУ
Базы данных
Книги- результаты поиска
Вид поиска
Книги
Статьи
Электронные издания ВСГУТУ
Статьи преподавателей ВСГУТУ
Вестник ВСГУТУ
Материалы конференций ВСГУТУ
Диссертации
Авторефераты
ГОСТЫ
Статьи о Бурятии
Выберите поиск:
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
в найденном
Что искать:
Найдено в других БД:
Статьи (4)
Электронные издания ВСГУТУ (5)
Статьи преподавателей ВСГУТУ (1)
Материалы конференций ВСГУТУ (2)
Диссертации (1)
Статьи о Бурятии (1)
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>K=Микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов
:
19
Показаны документы
с 1 по 10
1-10
11-19
>
1.
531.7
И374
Измерение размеров шаблона
на инструментальном
микроскопе
ММИ : Метод. рук-во к лаб. работе 8 по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация" / Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т ; сост. В. В. Садыков. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2005. - 12 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ
90
УДК
531.7(075.8)
Рубрики:
Метрология--Единство измерений--Лабораторные работы--Методические руководства
Кл.слова (ненормированные):
инструментальные
микроскопы
ММИ
--
измерение размеров шаблонов
--
лабораторные работы
--
методические руководства
--
учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу:
полный текст
Доп.точки доступа:
Садыков, В. В. \сост.\; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего:
9
аб (6), кх (3)
Свободны:
аб (6), кх (3)
Найти похожие
>
2.
531.7
О-624
Определение линейных размеров
тел с помощью штангенциркуля, микрометра и
микроскопа
: Метод. указание к выполн. лаб. работы / ВСГТУ ; Сост. Б.Д. Лыгденов, О.В. Старова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2006. - 10 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ
90
УДК
531.7(075.8)
Рубрики:
Метрология--Методические указания--Лабораторные работы--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
измерения
--
измерительные инструменты
--
штангенциркули
--
микрометры
--
микроскопы
--
линейные размеры тел
--
определение линейных размеров тел
--
методические указания
--
лабораторные работы
--
учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу:
полный текст
,
Перейти к внешнему ресурсу:
полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа:
Лыгденов, Б.Д. \сост.\; Старова, О.В. \сост.\; ВСГТУ
Экземпляры всего:
6
кх (3), аб (3)
Свободны:
кх (3), аб (3)
Найти похожие
>
3.
620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). -
ISBN
5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ
81.09.81
29.35.43
УДК
620.179(075.8)
681.7(075.8)
621.385.8(075.8)
Рубрики:
Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия
Микроскопия--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов
--
кристаллография
--
кристаллическая структура
--
кристаллическая решетка
--
рентгеновские методы анализа
--
дифракционный анализ
--
рентгеновская дифракция
--
дифракция электронов
--
микроскопы
--
оптическая микроскопия
--
интерференционная микроскопия
--
электронная микроскопия
--
просвечивающая электронная микроскопия
--
растровая электронная микроскопия
--
рентгеновский микроанализ
--
химический анализ поверхности
--
рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия
--
анализ Оже-электронов
--
ионная масс-спектроскопия
--
учебные пособия
Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего:
2
чз (2)
Свободны:
чз (2)
Найти похожие
>
4.
681.7
Е302
Егорова, Ольга Владимировна
.
Техническая микроскопия. Практика работы с
микроскопами
для технических целей : научное издание / О.В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). -
ISBN
978-5-94836-129-1 : 1172 р.
ГРНТИ
81.37
УДК
681.7
Рубрики:
Оптика--
Микроскопы
Кл.слова (ненормированные):
техническая микроскопия
--
микроскопы
--
металлографические
микроскопы
--
поляризационные
микроскопы
--
стереоскопические
микроскопы
--
специализированные
микроскопы
--
люминесцентные
микроскопы
--
методы исследования в микроскопии
--
контрастирование
--
стандарты микроскопии
--
контроль качества изображения
--
оценка качества изображения объективов
микроскопов
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего:
2
зал ППС (1), чз (1)
Свободны:
зал ППС (1), чз (1)
Найти похожие
>
5.
681.7
С381
Синдо, Дайзуке
.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). -
ISBN
5-94836-064-4. -
ISBN
4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ
29.35.43
УДК
681.7
543.4
Рубрики:
Микроскопия--Аналитические электронные
микроскопы
--Монографии
Аналитическая химия--Оптические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
аналитическая электронная микроскопия
--
просвечивающие электронные
микроскопы
--
спектроскопия
--
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
--
электронные
микроскопы
--
монографии
Доп.точки доступа:
Оикава, Тецуо
Экземпляры всего:
2
чз (1), зал ППС (1)
Свободны:
чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
6.
543
С423
Сканирующая электронная микроскопия
и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). -
ISBN
978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ
31.19
29.35.43
УДК
543.4(075.8)
621.385.8(075.8)
Рубрики:
Аналитическая химия--Учебные пособия
Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия
--
рентгеноспектральный микроанализ
--
сканирующие электронные
микроскопы
--
учебные пособия
Доп.точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего:
1
чз (1)
Свободны:
чз (1)
Найти похожие
>
7.
620.1
К474
Кларк, Эшли Р
.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). -
ISBN
978-5-94836-121-5. -
ISBN
1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ
81.09.03
29.35.43
УДК
620.179
681.7
Рубрики:
Материаловедение--Исследования материалов
Микроскопия--Микроскопические методы исследований
Кл.слова (ненормированные):
микроскопические методы исследований
--
исследования материалов
--
оптическая микроскопия
--
электромагнитное излучение
--
микроскопы
--
цифровые изображения
--
обработка изображений
--
микроскопия отраженного света
--
3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия
--
оптические методы исследований
--
электромагнитные методы исследований
Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Экземпляры всего:
2
чз (2)
Свободны:
чз (2)
Найти похожие
>
8.
615
М545
Методическое указание для
проведения практических занятий по дисциплине "Оборудование клинических центров" / С. С. Ямпилов [и др.] ; Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2010. - 48 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ
76.13
УДК
615.4(075.8)
Рубрики:
Медицинская техника--Методические указания
Кл.слова (ненормированные):
лабораторные медицинские устройства
--
термостаты
--
термометры
--
термоконтакторы
--
стерилизаторы
--
лабораторные центрифуги
--
электронные
микроскопы
--
гемоцитометры
--
гемокоагулометры
--
глюкоанализаторы
--
автоматические цифровые осмометры
--
ph-метры
--
иономеры
--
методические указания
Перейти к внешнему ресурсу:
полный текст
,
Перейти к внешнему ресурсу:
полный текст в bookonlime
Доп.точки доступа:
Ямпилов, С.С.; Хараев, Г.И.; Полякова, Л.Е.; Хантургаев, А.Г.; Цыбенов, Ж.Б.; Дондокова, Г.Ж.; Залуцкий, А.В.; Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Учебная литература:
ИПИБ / БМТ ПАПП / 12.03.04 / Основы гемодиализа / 5 / Доп
Экземпляры всего:
5
кх (5)
Свободны:
кх (5)
Найти похожие
>
9.
6П4.6
П 532
Полунов, Ю. Л.
Фотоэлектрические
микроскопы
и автоколлиматоры в станкостроении : обзор / Ю.Л. Полунов. - М : [б. и.], 1971. - 136 с. : ил. - (Станкостроение). - 1.03 р.
ГРНТИ
55.29
УДК
621.9.08
Рубрики:
Станкостроение--Обзоры
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы
фотоэлектрические
--
сканаторы
--
автоколлиматоры
--
автоколлиматорные приборы
--
контрольно-измерительные инструменты
--
обзоры
Экземпляры всего:
2
кх (2)
Свободны:
кх (2)
Найти похожие
>
10.
620.3
С253
Свойства и применение
наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. -
ISBN
978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ
81.09.30
УДК
620.3(075.8)
Рубрики:
Нанотехнологии--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
наноматериалы
--
фуллерены
--
графены
--
нанотрубки
--
размерное квантование
--
радиационная передача тепла
--
бесконтактное трение
--
металлические нанокластеры
--
атомная оптика
--
нанокомпозитные покрытия
--
сверхтвердые нанокомпозиты
--
оптические свойства наноматериалов
--
микроструктурированные световоды
--
нанодиагностика
--
сканирующие зондовые
микроскопы
--
сканирующая туннельная микроскопия
--
атомно-силовая микроскопия
--
ближнепольная оптическая микроскопия
--
учебные пособия
Доп.точки доступа:
Воронов, Владимир Кириллович; Ким, Де Чан; Янюшкин, Александр Сергеевич; Геращенко, Людмила Андреевна
Учебная литература:
МСФ / ТММС / 15.04.05 / Нанотехнологии и современные материалы в машиностроении / 1 / Доп
Экземпляры всего:
10
чз (3), аб (7)
Свободны:
чз (2), аб (7)
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
1-10
11-19
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
ссылка на мобильную версию электронного каталога