Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=химический анализ поверхности<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан. - 2006
 
ссылка на мобильную версию электронного каталога