Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=контроль качества изображения<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Егорова О.В. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей/О.В. Егорова. - 2007
 
ссылка на мобильную версию электронного каталога