Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=инженерные основы измерений<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Лич Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. Лич. - 2012
 
ссылка на мобильную версию электронного каталога