Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных

Вид поиска


Выберите поиск:
Что искать:
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=атомный спектральный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Батаев В.А. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей/В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2007
 
ссылка на мобильную версию электронного каталога