Научная библиотека ВСГУТУ

Базы данных

Вид поиска

Книги

Статьи

Электронные издания ВСГУТУ

Статьи преподавателей ВСГУТУ

Вестник ВСГУТУ

Материалы конференций ВСГУТУ

Выберите поиск:
в найденном
Что искать:

Найдено в других БД:

Статьи (11)

Электронные издания ВСГУТУ (2)

Статьи преподавателей ВСГУТУ (1)

Вестник ВСГУТУ (1)

Статьи о Бурятии (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-28

   543
   А64

    Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
   Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.

ГРНТИ	31.19
УДК	543(075.8)

Рубрики: Аналитическая химия--Учебники
Кл.слова (ненормированные):
аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники

Доп.точки доступа:
Ищенко, А. А. \ред.\; Алов, Николай Викторович; Василенко, Иван Александрович; Гольдштрах, Марианна Александровна; Грибов, Л. А.
Учебная литература:
ФЭСТД / НиАХ / 29.03.01 / Физико-химические методы анализа / 4 / Осн
МСФ / ФИЗ / 22.03.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 8 / Осн
Экземпляры всего: 15
чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие

   6П3.4
   Б258

   Баррет, Чарльз С.
    Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
   Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Структуры металлов
Кл.слова (ненормированные):
структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры

Доп.точки доступа:
Массальский, Т. Б.; Бернштейн, А. М. \пер.\; Добаткин, С. В. \пер.\; Бернштейн, М. Л. \ред.\
Экземпляры всего: 3
кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие

   577
   Б684

    Бландел, Т.
    Кристаллография белка / Т. Бландел, Л. Джонсон ; пер. с англ. В. Е. Шкловера ; под ред. Ю. Т. Стручкова ; с предисл. Б. К. Вайнштейна. - Москва : Мир, 1979. - 620 с. : рис., табл. ; 22 см. - Библиогр.: с. 591-607 (612 назв.). - Предм. указ.: с. 608-613. - 2300 экз.. - (в пер.) : 300 р.

ГРНТИ	31.23.27	31.15.17
УДК	577.2	548

Рубрики: Молекулярная биология--Кристаллография белков
Физическая химия--Кристаллография белков
Кл.слова (ненормированные):
кристаллография белков -- структура белков -- рентгенструктурный анализ белков -- кристаллизация белков -- симметрия -- пространственные группы -- оптические свойства кристаллов -- дифракция рентгеновских лучей -- изоморфное замещение -- аномальное рассеяние -- тяжелоатомные производные -- определение положения тяжелых атомов -- расчеты фаз -- карты электронной плотности -- разностные синтезы Фурье -- молекулярное замещение -- нейтроны -- гамма-излучение -- электронная микроскопия

Доп.точки доступа:
Джонсон, Л.; Шкловер, В. Е. \ред.\; Стручков, Ю. Т. \ред.\; Вайнштейн, Б. К. \авт. предисл.\
Экземпляры всего: 1
зал ППС (1)
Свободны: зал ППС (1)
Найти похожие

   577
   Б738

    Боген, Г.
    Современная биология : [учебник для учащихся старших классов, студентов младших курсов медицинских и сельскохозяйственных институтов : пер. с нем.] / Г. Боген. - Москва : Мир, 1970. - 411, [5] с. : ил. ; 22 см. - 300 р.

ГРНТИ	34.15
УДК	577.2(075.8)

Рубрики: Молекулярная биология--Учебники
Кл.слова (ненормированные):
молекулярная биология -- нуклеиновые кислоты -- генетика -- наследственность -- мейоз -- электронная микроскопия -- строение клеток -- рибосомы -- мембраны -- митохондрии -- вакуоли -- хлоропласты -- клеточные оболочки -- регуляция механизмов клеток -- ферменты -- ферментативная активность -- молекулы -- иммунитет -- антигены -- антитела -- фагоциты -- происхождение жизни -- эволюция жизни -- учебники

Экземпляры всего: 1
чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

   620.1
   Б874

    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН

ГРНТИ	81.09.81	29.35.43
УДК	620.179(075.8)	681.7(075.8)	621.385.8(075.8)

Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия
Микроскопия--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С.Л. \ред.\; Егорова, О.В. \ред.\
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Методы исследования и контроля материалов / 5 / Доп
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие

   6п3.4
   В558

    Вишняков, Яков Дмитриевич.
    Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.

ГРНТИ	53.49.19
УДК	669.017

Рубрики: Металловедение--Кристаллы деформированные--Методы исследований
Кл.слова (ненормированные):
структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования

Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   620.3
   Г611

    Головин, Юрий Иванович.
    Введение в нанотехнику [] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.

ГРНТИ	81.09
УДК	620.3

Рубрики: Нанотехнологии
Кл.слова (ненормированные):
нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция

Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.03.02 / Физико-химия наноматериалов, нанотехнологии / 5 / Осн
Экземпляры всего: 1
кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие

   548
   Г687

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии

ГРНТИ	38.41.21
УДК	548(075.8)

Рубрики: Рентгенография--Электронография--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия

Доп.точки доступа:
Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н.
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.04.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 2 / Осн
МСФ / ФИЗ / 22.03.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 8 / Осн
Экземпляры всего: 10
чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие

   6П3.4
   К825


    Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : Учеб. для вузов по спец. "Физика металлов" и "Металловедение, оборуд. и технология терм. обраб. металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 632 с. : ил. - 1.40 р.
Допущено МВиССО СССР

ГРНТИ	53.49.13
УДК	669.017(075.8)

Рубрики: Металловедение--Микроскопия электронная--Рентгенография--Учебники
Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- рентгенография -- строение кристаллов -- рентгеновские спектры -- рассеивание рентгеновских лучей кристаллами -- диффузное рассеивание лучей -- рентгеноструктурный анализ -- рентгенографический анализ сплавов -- дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия -- учебники

Доп.точки доступа:
Уманский, Яков Семенович; Скаков, Юрий Александрович; Иванов, Александр Николаевич; Расторгуев, Леонид Николаевич
Учебная литература:
МСФ / МТОМ / 22.04.02 / Рентгенография и электронная микроскопия / 2 / Доп
Экземпляры всего: 4
кх (2), аб (2)
Свободны: кх (2), аб (2)
Найти похожие

10.

   531.7
   Л66

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.

ГРНТИ	90.27	81.09.03
УДК	531.7(075.8)	620.3(075.8)

Рубрики: Нанотехнологии--Учебные пособия
Метрология--Учебные пособия
Кл.слова (ненормированные):
нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия

Учебная литература:
ИПИБ / СМУК / 27.03.01 / Конструирование и расчет средств измерений / 6 / Осн
Экземпляры всего: 2
чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие

1-10 11-20 21-28

Тематический навигатор

ссылка на мобильную версию электронного каталога

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска