Вид документа : Многотомное издание Шифр издания : 537/Р245 Автор(ы) : Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в 2 книгах/ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. Кн. 2 Выходные данные : Москва: Мир, 1984 Колич.характеристики :351 с.: ил.; 22 см Серия: Цена : 3.10 р. ГРНТИ : 29.35.43 УДК : 537 + 543 Предметные рубрики: Физика-- Микроскопия электронная Экземпляры : всего : кх(2) Свободны : кх(2) Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж.; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\