530.1 Ф374 Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева ; под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 344 с. : ил. - Б. ц. ГРНТИ 29.19.16 УДК:539.2 Ключевые слова: физика тонких пленок -- поверхности -- анализ поверхностей -- анализ тонких пленок Доп.точки доступа: Майер, Д. --- Аркадьев, В. А. \пер.\ --- Огнев, Л. И. \пер.\ --- Белошицкий, В. В. \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |