543 Р494 Рид, С. Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р. ГРНТИ 31.19 29.35.43 38.01.77 УДК:543.4550621.385.8 Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1) Свободны: чз (1), зал ППС (1) |