54 Н766 Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия : справочник: В 3-х ч. - СПб. : Профессионал, 2004 - 2007. Ч. III / Ред. тома И.П. Калинкин, В.И. Мосичев, Г.В. Сайдов. - 2007. - 689 с. : ил. - ISBN 5-98371-002-8 : 4917.00 р. ГРНТИ 31.19 УДК:54(035) ББК 543(035) Ключевые слова: спектроскопический анализ -- методы спектроскопического анализа -- рентгеновская спектроскопия -- ретгенофлуоресцентный анализ -- электронно-зондовый микроанализ -- дифракционный анализ -- Оже-электронный метод -- справочники Доп.точки доступа: Калинкин, И.П. \ред.\ --- Мосичев, В.И. \ред.\ --- Сайдов, Г.В. \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
543 Р494 Рид, С. Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р. ГРНТИ 31.19 29.35.43 38.01.77 УДК:543.4550621.385.8 Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1) Свободны: чз (1), зал ППС (1) |
543 С423 Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р. Допущено УМО ГРНТИ 31.19 29.35.43 УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8) Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия --- Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
620.1 Б28 Батаев, Владимир Андреевич. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р. Допущено УМО ГРНТИ 81.09.81 81.81 УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8) Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия --- Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
6П2.151 К646 Конников, Самуил Гиршевич. Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов : производственно-практическое издание / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - М. : Энергия, 1978. - 136 с. : ил. - 0.40 р. ГРНТИ 47.33 УДК:621.382.2/.3 Ключевые слова: полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- электронно-зондовые исследования -- рентгеноспектральный микроанализ Доп.точки доступа: Сидоров, Александр Федорович --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П4.51 М54 Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - . Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р. ГРНТИ 53.49.21 УДК:669.017(035)621.785(035) Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ --- Экземпляры всего: 5 Mесто хранения: кх (4), аб (1) Свободны: кх (4), аб (1) |
6П4.51 М54 Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургиздат, 1961 - . Т. 1 / Под М. Л. Бернштейна[и др.]. - 1961. - 747 с. : ил. - ). - 4.36 р. ГРНТИ 53.49.21 УДК:669.017(035)621.785(035) Ключевые слова: механические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- испытания на изнашиваемость -- испытания на усталость -- определение остаточных напряжений -- водородная хрупкость -- макроанализ -- микроанализ -- фазовый анализ сталей -- электронография -- радиоспектроскопия -- спектральный анализ металлов -- интроскопия металлов -- дефектоскопия -- физические методы контроля металлов -- изломы сталей -- радиоактивные изотопы -- периодическая система Д.И. Менделеева -- двойные диаграммы состояния -- справочники Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Бокштейн, С.З. \ред.\ --- Борздык, А.М. \ред.\ --- Бунин, К.П. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |
6П3.4 П75 Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - . Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р. ГРНТИ 53.49 УДК:669.017 Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П2.154 Б188 Байцер, Б. Микроанализ производительности вычислительных систем : научное издание / Б. Байцер ; Пер. с англ. под ред. В. В. Мартынюка. - Москва : Радио и связь, 1983. - 360 с. : ил. - Б. ц. ГРНТИ 50.33.29 УДК:004.38 Ключевые слова: вычислительные системы -- микроанализ вычислительных систем -- производительность вычислительных систем Доп.точки доступа: Мартынюк, В.В. \пер., ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
15 Г681 Гордеева, Н. Д. Микроструктрурный анализ исполнительной деятельности : Методы и результаты / Н. Д. Гордеева, В. М. Девишвили, В. П. Зинченко ; под ред. В. П. Зинченко ; Гос. ком. Совета Министров СССР по науке и технике, Всесоюз. науч.-исслед. ин-т техн. эстетики. - Москва : [б. и.], 1975. - 173, [1] с. : табл. ; 20 см. - Библиогр.: с. 158-172 (170 назв.). - 1500 экз.. - 0.75 р. ГРНТИ 15.81.31 ББК Ю94 Ключевые слова: пространственные навыки -- исполнительная деятельность -- инструментальные двигательные навыки -- формирование навыков -- микроанализ исполнительной деятельности Доп.точки доступа: Девишвили, В. М. --- Зинченко, В. П. --- Зинченко, В. П. \ред.\ --- Государственный комитет Совета Министров СССР по науке и технике (Москва) Всесоюзный научно-исследовательский институт технической эстетики Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
537 Р245 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - . Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:537543 Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |
537 Р245 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - . Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:537543 Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (2) Свободны: кх (2) |
537 М597 Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р. ГРНТИ 29.35.43 УДК:537543 Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ --- Экземпляры всего: 3 Mесто хранения: кх (3) Свободны: кх (3) |
543 Б535 Бессероводородные методы качественного полумикроанализа : Учебное пособие для нехимических специальностей вузов / ред. А. П. Крешков. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1979. - 271 с. : ил. ; 22 см. - 15000 экз.. - (в пер.) : 0.65 р. ГРНТИ 31.19 УДК:543(075.8) Ключевые слова: химические методы анализа -- качественный микроанализ -- полумикроанализ -- бессероводородные методы полумикроанализа -- учебные пособия Доп.точки доступа: Крешков, Анатолий Павлович \ред.\ --- Экземпляры всего: 5 Mесто хранения: кх (2), аб (3) Свободны: кх (2), аб (3) |
543 Б535 Бессероводородные методы качественного полумикроанализа : Учебное пособие для нехимических специальностей вузов / ред. А. П. Крешков. - Москва : Высшая школа, 1971. - 222 с. : ил. - 0.40 р. ГРНТИ 31.19 УДК:543(075.8) Ключевые слова: химические методы анализа -- качественный микроанализ -- полумикроанализ -- бессероводородные методы полумикроанализа -- учебные пособия Доп.точки доступа: Крешков, Анатолий Павлович \ред.\ --- Экземпляры всего: 2 Mесто хранения: кх (1), аб (1) Свободны: кх (1), аб (1) |
543 К682 Королев, Н. В. Эмиссионный спектральный микроанализ / Н. В. Королев, В. В. Рюхин, С. А. Горбунов. - Ленинград : Машиностроение, 1971. - 215 с. : ил. - 0.89 р. ГРНТИ 31.19 УДК:543.4 Ключевые слова: оптические методы анализа -- эмиссионный спектральный микроанализ Доп.точки доступа: Рюхин, В. В. --- Горбунов, С. А. --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
543 Э455 Электронно-зондовый микроанализ / пер. с англ. под ред. И. Б. Боровского. - Москва : Мир, 1974. - 262 с. : ил. - Б. ц. ГРНТИ 31.19 УДК:543.5 Ключевые слова: хроматографические методы анализа -- электронно-зондовый микроанализ Доп.точки доступа: Боровский, И. Б. \пер., ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
543 М545 Методы количественного органического элементного микроанализа / Н. Э. Гельман [и др.] ; Под ред. Н. Э. Гельман. - Москва : Химия, 1987. - 292, [1] с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 281-293 (457 назв.). - 5450 экз.. - (в пер.) : 1.40 р. ГРНТИ 31.19.29 УДК:543.8 Ключевые слова: аналитическая химия -- органические соединения -- органический элементный микроанализ -- химический анализ -- элементоорганические соединения Доп.точки доступа: Гельман, Нора Эфраимовна --- Терентьева, Е. А. --- Шанина, Т. М. --- Гельман, Нора Эфраимовна \ред.\ --- Экземпляры всего: 5 Mесто хранения: аб (1), кх (4) Свободны: аб (1), кх (4) |