621.38 Б862 Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : Пер. с англ. / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред. И.Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 275 с. : ил. - ISBN 5020249637 : 147.70 р. ГРНТИ 47.29.39 УДК:621.386 Ключевые слова: кристаллическое совершенство -- анализ эпитаксиальных слоев -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеновские дифракционные кривые качания -- анализ тонких пленок -- многослойные системы -- рентгеновская дифрактометрия -- трехосевая рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская топография -- однокристальная рентгеновская топография -- двухкристальная рентгеновская топография Доп.точки доступа: Таннер, Б.К. --- Шульпина, И.Л. \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
530.1 Ф374 Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева ; под ред. В. В. Белошицкого. - Москва : Мир, 1989. - 344 с. : ил. - Б. ц. ГРНТИ 29.19.16 УДК:539.2 Ключевые слова: физика тонких пленок -- поверхности -- анализ поверхностей -- анализ тонких пленок Доп.точки доступа: Майер, Д. --- Аркадьев, В. А. \пер.\ --- Огнев, Л. И. \пер.\ --- Белошицкий, В. В. \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |