543 С423 Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р. Допущено УМО ГРНТИ 31.19 29.35.43 УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8) Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия --- Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
620.1 Б28 Батаев, Владимир Андреевич. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р. Допущено УМО ГРНТИ 81.09.81 81.81 УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8) Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия --- Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: чз (1) Свободны: чз (1) |
6П2.151 К646 Конников, Самуил Гиршевич. Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов : производственно-практическое издание / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - М. : Энергия, 1978. - 136 с. : ил. - 0.40 р. ГРНТИ 47.33 УДК:621.382.2/.3 фывфывфыв: полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- электронно-зондовые исследования -- рентгеноспектральный микроанализ Доп.точки доступа: Сидоров, Александр Федорович --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |
6П3.4 П75 Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - . Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р. ГРНТИ 53.49 УДК:669.017 фывфывфыв: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ --- Экземпляры всего: 1 Mесто хранения: кх (1) Свободны: кх (1) |