Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 15
| 1-10 11-15 |
1. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
2. 681.7
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: аналитическая электронная микроскопия -- просвечивающие электронные микроскопы -- спектроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- электронные микроскопы -- монографии
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
3. 543
Н804
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
Н804
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
4. 543
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
5. 543
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
6. 620.1
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---Ключевые слова: микроскопические методы исследований -- исследования материалов -- оптическая микроскопия -- электромагнитное излучение -- микроскопы -- цифровые изображения -- обработка изображений -- микроскопия отраженного света -- 3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия -- оптические методы исследований -- электромагнитные методы исследований
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
7. 621.38
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
8. 6.06
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
9. 6П3.4
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
10. 57А
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
11. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
12. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
13. 537
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
М597
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ж. Филибер [и др.] ; под ред. Ф. Морис [и др.] ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой ; под ред. [и с предисл.] И. Б. Боровского. - Москва : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.). - Предм. указ.: с. 404-407. - 3200 экз.. - (в пер.) : 5.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ
Доп.точки доступа: Филибер, Ж. --- Фонтен, Ж. --- Викарио, Э. --- Морис, Ф. \ред.\ --- Стельмакова, Г. Д. \пер.\ --- Боровский, И. Б. \ред., авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
14. 537
Ш615
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского ; под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537
Ключевые слова: электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Розенфельд, А. М. \пер.\ --- Спасский, М. Н. \пер.\ --- Рожанский, В. Н. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Ш615
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского ; под ред. В. Н. Рожанского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537
Ключевые слова: электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Розенфельд, А. М. \пер.\ --- Спасский, М. Н. \пер.\ --- Рожанский, В. Н. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
15.
Методические указания для выполнения курсовой работы по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия" [Электронный ресурс] : для бакалавров по направлению подготовки 22.03.02 "Металлургия" / Вост.-Сиб. гос. ун-т технологий и упр. ; сост. И. П. Полянский. - Улан-Удэ : Издательство ВСГУТУ, 2021. - 14 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
53
Рубрики: Металлургия--Микроскопия электронная--Методические указания --- Металлургия--Рентгенография--Методические указания ---Ключевые слова: рентгенография -- электронная микроскопия -- курсовые работы -- методические указания
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Полянский, Иван Петрович \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления (Улан-Удэ)
Свободных экз. нет
Найти похожие
Методические указания для выполнения курсовой работы по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия" [Электронный ресурс] : для бакалавров по направлению подготовки 22.03.02 "Металлургия" / Вост.-Сиб. гос. ун-т технологий и упр. ; сост. И. П. Полянский. - Улан-Удэ : Издательство ВСГУТУ, 2021. - 14 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
53
Рубрики: Металлургия--Микроскопия электронная--Методические указания --- Металлургия--Рентгенография--Методические указания ---
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Полянский, Иван Петрович \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления (Улан-Удэ)
Свободных экз. нет
Найти похожие