Выберите из списка что вы ищете:

Поиск ведется по: Ключевым словам Заглавию Автору

Отсортировать найденные документы по: авторузаглавиюгоду изданиятипу документа

Общее количество найденных документов : 3

1.    620.1
   Б874
    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)

Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---

Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)

Найти похожие

2.    543
   С423

    Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)

Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---

Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие

3.    621.38
   П764

    Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)

Рубрики: Микроскопия--Методические указания--Учебные пособия ---

Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ

Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)

Найти похожие