Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 3
>
1. 54
Н766
Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия : справочник: В 3-х ч. - СПб. : Профессионал, 2004 - 2007.
Ч. III / Ред. тома И.П. Калинкин, В.И. Мосичев, Г.В. Сайдов. - 2007. - 689 с. : ил. - ISBN 5-98371-002-8 : 4917.00 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:54(035)
ББК 543(035)
Ключевые слова: спектроскопический анализ -- методы спектроскопического анализа -- рентгеновская спектроскопия -- ретгенофлуоресцентный анализ -- электронно-зондовый микроанализ -- дифракционный анализ -- Оже-электронный метод -- справочники
Доп.точки доступа: Калинкин, И.П. \ред.\ --- Мосичев, В.И. \ред.\ --- Сайдов, Г.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
>
Н766
Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия : справочник: В 3-х ч. - СПб. : Профессионал, 2004 - 2007.
Ч. III / Ред. тома И.П. Калинкин, В.И. Мосичев, Г.В. Сайдов. - 2007. - 689 с. : ил. - ISBN 5-98371-002-8 : 4917.00 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:54(035)
ББК 543(035)
Ключевые слова: спектроскопический анализ -- методы спектроскопического анализа -- рентгеновская спектроскопия -- ретгенофлуоресцентный анализ -- электронно-зондовый микроанализ -- дифракционный анализ -- Оже-электронный метод -- справочники
Доп.точки доступа: Калинкин, И.П. \ред.\ --- Мосичев, В.И. \ред.\ --- Сайдов, Г.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
>
2. 543
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
3. 543
Э455
Электронно-зондовый микроанализ / пер. с англ. под ред. И. Б. Боровского. - Москва : Мир, 1974. - 262 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 31.19
УДК:543.5
Ключевые слова: хроматографические методы анализа -- электронно-зондовый микроанализ
Доп.точки доступа: Боровский, И. Б. \пер., ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Э455
Электронно-зондовый микроанализ / пер. с англ. под ред. И. Б. Боровского. - Москва : Мир, 1974. - 262 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 31.19
УДК:543.5
Ключевые слова: хроматографические методы анализа -- электронно-зондовый микроанализ
Доп.точки доступа: Боровский, И. Б. \пер., ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие