Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 28
| 1-10 11-20 21-28 |
1. 548
Г687
Горелик, С. С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии
ГРНТИ 38.41.21
УДК:548(075.8)
Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие
Г687
Горелик, С. С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии
ГРНТИ 38.41.21
УДК:548(075.8)
Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие
2. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
3. 620.3
Г611
Головин, Юрий Иванович.
Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.3
Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Г611
Головин, Юрий Иванович.
Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.3
Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
4. 531.7
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
5. 620.3
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
6. 6.06
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
7. 6П4.51
М54
Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - .
Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р.
ГРНТИ 53.49.21
УДК:669.017(035)621.785(035)
Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования
Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (4), аб (1)
Свободны: кх (4), аб (1)
Найти похожие
М54
Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - .
Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р.
ГРНТИ 53.49.21
УДК:669.017(035)621.785(035)
Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования
Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (4), аб (1)
Свободны: кх (4), аб (1)
Найти похожие
8. 6п3.4
В558
Вишняков, Яков Дмитриевич.
Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
В558
Вишняков, Яков Дмитриевич.
Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
9. 6П3.4
Б258
Баррет, Чарльз С.
Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры
Доп.точки доступа: Массальский, Т. Б. --- Бернштейн, А. М. \пер.\ --- Добаткин, С. В. \пер.\ --- Бернштейн, М. Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
Б258
Баррет, Чарльз С.
Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры
Доп.точки доступа: Массальский, Т. Б. --- Бернштейн, А. М. \пер.\ --- Добаткин, С. В. \пер.\ --- Бернштейн, М. Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
10. 6П3.4
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
11. 6П3.4
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
12. 6П3.4
К825
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : Учеб. для вузов по спец. "Физика металлов" и "Металловедение, оборуд. и технология терм. обраб. металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 632 с. : ил. - 1.40 р.
Допущено МВиССО СССР
ГРНТИ 53.49.13
УДК:669.017(075.8)
Ключевые слова: кристаллография -- рентгенография -- строение кристаллов -- рентгеновские спектры -- рассеивание рентгеновских лучей кристаллами -- диффузное рассеивание лучей -- рентгеноструктурный анализ -- рентгенографический анализ сплавов -- дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия -- учебники
Доп.точки доступа: Уманский, Яков Семенович --- Скаков, Юрий Александрович --- Иванов, Александр Николаевич --- Расторгуев, Леонид Николаевич ---
Экземпляры всего: 4
Mесто хранения: кх (2), аб (2)
Свободны: кх (2), аб (2)
Найти похожие
К825
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : Учеб. для вузов по спец. "Физика металлов" и "Металловедение, оборуд. и технология терм. обраб. металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 632 с. : ил. - 1.40 р.
Допущено МВиССО СССР
ГРНТИ 53.49.13
УДК:669.017(075.8)
Ключевые слова: кристаллография -- рентгенография -- строение кристаллов -- рентгеновские спектры -- рассеивание рентгеновских лучей кристаллами -- диффузное рассеивание лучей -- рентгеноструктурный анализ -- рентгенографический анализ сплавов -- дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия -- учебники
Доп.точки доступа: Уманский, Яков Семенович --- Скаков, Юрий Александрович --- Иванов, Александр Николаевич --- Расторгуев, Леонид Николаевич ---
Экземпляры всего: 4
Mесто хранения: кх (2), аб (2)
Свободны: кх (2), аб (2)
Найти похожие
13. 6П3.4
Э625
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; Пер. с нем. Б. Е. Левина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 231 с. : ил. - 1.60 р.
ГРНТИ 53.49.09
УДК:669.018(035)
Ключевые слова: электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- разрушение металлов -- износ металлов -- справочники
Доп.точки доступа: Клингеле, Г. --- Левин, Б.Е. \пер.\ --- Бернштейн, Марк Львович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (2), аб (1)
Свободны: кх (2), аб (1)
Найти похожие
Э625
Энгель, Л.
Растровая электронная микроскопия. Разрушение : Справочник / Л. Энгель, Г. Клингеле ; Пер. с нем. Б. Е. Левина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1986. - 231 с. : ил. - 1.60 р.
ГРНТИ 53.49.09
УДК:669.018(035)
Ключевые слова: электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- разрушение металлов -- износ металлов -- справочники
Доп.точки доступа: Клингеле, Г. --- Левин, Б.Е. \пер.\ --- Бернштейн, Марк Львович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (2), аб (1)
Свободны: кх (2), аб (1)
Найти похожие
14.
Сердюк, И. Н.
Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Электронный ресурс] : учебник в 2-х т. / И. Н. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; пер. с англ., науч. ред. И. Н. Сердюк. - Москва : КДУ, 2009 - . - 978-5-98227-452-6 экз..
Т. 2. - 2010. - 735 с. : ил., табл. - ). - Библиогр.: с. 685-726 . - Авт. указ.: с. 727-729. - ISBN 978-5-98227-454-0 : Б. ц.
ГРНТИ 34.17.15
Ключевые слова: молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- световая микроскопия -- конфокальная микроскопия -- безлинзовая микроскопия -- микроскопия силового поля -- флуоресцентная микроскопия -- детектирование одиночных молекул -- макромолекулярная механика -- биологические моторы -- рентгеновская рефракция -- нейтронная рефракция -- макромолекулы -- малоугловое рассеяние -- макромолекулярная рентгеновская кристаллография -- нейтронография -- электронная дифракция -- электронная микроскопия -- трехмерная реконструкция -- спектроскопия -- абсорбционная спектроскопия -- ИК-спектроскопия -- спектроскопия комбинационного рассеяния -- оптическая активность -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Заккаи, Натан --- Заккаи, Джозеф Джузеппе ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
Сердюк, И. Н.
Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Электронный ресурс] : учебник в 2-х т. / И. Н. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; пер. с англ., науч. ред. И. Н. Сердюк. - Москва : КДУ, 2009 - . - 978-5-98227-452-6 экз..
Т. 2. - 2010. - 735 с. : ил., табл. - ). - Библиогр.: с. 685-726 . - Авт. указ.: с. 727-729. - ISBN 978-5-98227-454-0 : Б. ц.
ГРНТИ 34.17.15
Ключевые слова: молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- световая микроскопия -- конфокальная микроскопия -- безлинзовая микроскопия -- микроскопия силового поля -- флуоресцентная микроскопия -- детектирование одиночных молекул -- макромолекулярная механика -- биологические моторы -- рентгеновская рефракция -- нейтронная рефракция -- макромолекулы -- малоугловое рассеяние -- макромолекулярная рентгеновская кристаллография -- нейтронография -- электронная дифракция -- электронная микроскопия -- трехмерная реконструкция -- спектроскопия -- абсорбционная спектроскопия -- ИК-спектроскопия -- спектроскопия комбинационного рассеяния -- оптическая активность -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Заккаи, Натан --- Заккаи, Джозеф Джузеппе ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
15. 57
Ф824
Фрайфелдер, Дэвид.
Физическая биохимия : Применение физико-химических методов в биохимии и молекулярной биологии / Д. Фрайфелдер ; пер. с англ. Е. С. Громовой, С. В. Яроцкого ; под ред. З. А. Шабаровой. - Москва : Мир, 1980. - 582 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 562-572. - 3 р., 250 р.
ГРНТИ 31.27
УДК:577.3
Ключевые слова: Физическая биохимия -- Макромолекулы -- Оптическая микроскопия -- Электронная микроскопия -- Живые системы -- Молекулярное изучение -- Лабораторные методы исследований -- Радиоактивные метки -- Авторадиография -- Мембранная фильтрация -- Диализ -- Разделение веществ -- Идентификация веществ -- Хроматография -- Электрофорез -- Иммунологические методы исследований -- Гидродинамические методы исследований -- Спектроскопические методы исследований -- Седиментация -- Парциальный удельный объем -- Коэффициент диффузии -- Вязкость -- Абсорбционная спектроскопия -- Флуоресцентная спектроскопия -- Дисперсия оптического вращения -- Круговой дихроизм -- Ядерный магнитный резонанс
Доп.точки доступа: Шабарова, Зоя Алексеевна \ред.\ --- Громова, Е. С. \пер.\ --- Яроцкий, С. В. \пер.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (1), зал ППС (2)
Свободны: кх (1), зал ППС (2)
Найти похожие
Ф824
Фрайфелдер, Дэвид.
Физическая биохимия : Применение физико-химических методов в биохимии и молекулярной биологии / Д. Фрайфелдер ; пер. с англ. Е. С. Громовой, С. В. Яроцкого ; под ред. З. А. Шабаровой. - Москва : Мир, 1980. - 582 с. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 562-572. - 3 р., 250 р.
ГРНТИ 31.27
УДК:577.3
Ключевые слова: Физическая биохимия -- Макромолекулы -- Оптическая микроскопия -- Электронная микроскопия -- Живые системы -- Молекулярное изучение -- Лабораторные методы исследований -- Радиоактивные метки -- Авторадиография -- Мембранная фильтрация -- Диализ -- Разделение веществ -- Идентификация веществ -- Хроматография -- Электрофорез -- Иммунологические методы исследований -- Гидродинамические методы исследований -- Спектроскопические методы исследований -- Седиментация -- Парциальный удельный объем -- Коэффициент диффузии -- Вязкость -- Абсорбционная спектроскопия -- Флуоресцентная спектроскопия -- Дисперсия оптического вращения -- Круговой дихроизм -- Ядерный магнитный резонанс
Доп.точки доступа: Шабарова, Зоя Алексеевна \ред.\ --- Громова, Е. С. \пер.\ --- Яроцкий, С. В. \пер.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (1), зал ППС (2)
Свободны: кх (1), зал ППС (2)
Найти похожие
16. 57А
М545
Методы общей бактериологии / под общ. ред. Ф. Гердхарт ; пер. с англ. Е. Н. Кондратьевой, Л. В. Калакуцкого. - Москва : Мир, 1983 - .
Т. 1. - 1983. - 536 с. - 2.60 р., 150 р.
ГРНТИ 34.27
УДК:57А
Ключевые слова: бактериология -- световая микроскопия -- методы идентификации в световой микроскопии -- электронная микроскопия -- клеточные фракции -- культивирование микроорганизмов -- чистые культуры -- твердые культуры -- жидкие культуры -- измерение роста микроорганизмов -- хранение микроорганизмов
Доп.точки доступа: Герхарт, Ф. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), зал ППС (1)
Свободны: кх (1), зал ППС (1)
Найти похожие
М545
Методы общей бактериологии / под общ. ред. Ф. Гердхарт ; пер. с англ. Е. Н. Кондратьевой, Л. В. Калакуцкого. - Москва : Мир, 1983 - .
Т. 1. - 1983. - 536 с. - 2.60 р., 150 р.
ГРНТИ 34.27
УДК:57А
Ключевые слова: бактериология -- световая микроскопия -- методы идентификации в световой микроскопии -- электронная микроскопия -- клеточные фракции -- культивирование микроорганизмов -- чистые культуры -- твердые культуры -- жидкие культуры -- измерение роста микроорганизмов -- хранение микроорганизмов
Доп.точки доступа: Герхарт, Ф. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), зал ППС (1)
Свободны: кх (1), зал ППС (1)
Найти похожие
17. 57А
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
18. 543
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие
19. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.00 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
20. 537
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
Р245
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2 книгах / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984 - .
Кн. 2. - 1984. - 351 с. : ил. ; 22 см. - ). - 3400 экз.. - (в пер.) : 3.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:537543
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. --- Ньюбери, Д. --- Эчлин, П. --- Гвоздовер, Р. С. \пер.\ --- Комолова, Л. Ф. \пер.\ --- Петров, В. И. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие