Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 4
1. 543
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
2. 620.1
Б28
Батаев, Владимир Андреевич.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия ---Ключевые слова: структурный анализ материалов -- контроль качества деталей -- металлические материалы -- дефекты кристаллического строения -- металлическая металлография -- трансмиссионная электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- рентгеновский метод -- рентгеноспектральный микроанализ -- атомный спектральный анализ -- акустический контроль -- радиационный контроль -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Б28
Батаев, Владимир Андреевич.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : Учеб. пособие для вузов по напр. подгот. 150600 (551600)-"Материаловедение и технол. новых материалов" и по спец. 150501 (120800)- "Материаловедение в машиностроении" / В.А. Батаев, А.А. Батаев, А.П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 201.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.81
81.81
УДК:620.1(075.8)658.562.4(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ материалов--Учебные пособия --- Контроль качества--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Батаев, Анатолий Андреевич --- Алхимов, Анатолий Павлович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
3. 6П2.151
К646
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов : производственно-практическое издание / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - М. : Энергия, 1978. - 136 с. : ил. - 0.40 р.
ГРНТИ 47.33
УДК:621.382.2/.3
Ключевые слова: полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- электронно-зондовые исследования -- рентгеноспектральный микроанализ
Доп.точки доступа: Сидоров, Александр Федорович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
К646
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов : производственно-практическое издание / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - М. : Энергия, 1978. - 136 с. : ил. - 0.40 р.
ГРНТИ 47.33
УДК:621.382.2/.3
Ключевые слова: полупроводниковые материалы -- полупроводниковые приборы -- электронно-зондовые исследования -- рентгеноспектральный микроанализ
Доп.точки доступа: Сидоров, Александр Федорович ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
4. 6П3.4
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие