Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 1
1. 543
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие