Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 15
1-10 11-15 |
1. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
>
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
>
2. 681.7
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: аналитическая электронная микроскопия -- просвечивающие электронные микроскопы -- спектроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- электронные микроскопы -- монографии
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
3. 543
Н804
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
Н804
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем : научное издание / Б. Нолтинг ; Пер. с англ. Н.Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III, 02). - ISBN 5-94836-044-X. - ISBN 3-540-01297-4 : 94.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4543.5621.385.8
Ключевые слова: жидкостная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия -- просвечивающая микроскопия -- электронная растровая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- протеомика -- технология передачи мыслей
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
4. 543
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновские спектрометры -- рентгеноспектральный анализ
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
Р494
Рид, С. Дж.Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С.Дж.Б. Рид. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле ; v, 02). - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X : 256 р., 337.32 р.
ГРНТИ 31.19
29.35.43
38.01.77
УДК:543.4550621.385.8
Рубрики: Аналитическая химия--Оптические методы анализа --- Микроскопия--Электронно-зондовый микроанализ--Растровая электронная микроскопия --- Геология--Оптические методы анализа ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
>
5. 543
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
>
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
>
6. 620.1
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---Ключевые слова: микроскопические методы исследований -- исследования материалов -- оптическая микроскопия -- электромагнитное излучение -- микроскопы -- цифровые изображения -- обработка изображений -- микроскопия отраженного света -- 3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия -- оптические методы исследований -- электромагнитные методы исследований
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
>
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
>
7. 621.38
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
>
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
>
8. 6.06
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
>
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
>
9. 6П3.4
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
>
Э455
Электронная микроскопия в металловедении : Справочник / Под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 191 с. : ил. - 1.10 р.
ГРНТИ 29.35.43
53.49.19
УДК:669.017(035)
Ключевые слова: металловедение -- электронная микроскопия -- микрофотографии -- микрофрактограммы -- микродифракционный анализ -- справочники
Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
>
10. 57А
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
У-359
Уикли, Б.
Электронная микроскопия для начинающих : научное издание / Б. Уикли ; пер. с англ. И. В. Викторова. - Москва : Мир, 1975. - 328 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:57А
Ключевые слова: Электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие