Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 28
| 1-10 11-20 21-28 |
1. 548
Г687
Горелик, С. С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии
ГРНТИ 38.41.21
УДК:548(075.8)
Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие
Г687
Горелик, С. С.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб. пособие для вузов по напр. 550500 - Металлургия, 651800 - Физ. материаловедение / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ISBN 5876230960 : 141.39 р.
Рек. УМО по образованию в обл. металлургии
ГРНТИ 38.41.21
УДК:548(075.8)
Ключевые слова: рентгенографический анализ -- рентгенодифрактометрический анализ -- электронография -- электронная микроскопия -- спектральный анализ -- микродифракция -- электронно-оптический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- анализ дефектов кристаллического строения -- качественный фазовый анализ -- количественный фазовый анализ -- текстурный анализ -- спектроскопия -- структурный анализ -- рентгеновская техника -- рентгенограммы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А. --- Расторгуев, Л.Н. ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (3), аб (7)
Найти похожие
2. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
3. 620.3
Г611
Головин, Юрий Иванович.
Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.3
Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
Г611
Головин, Юрий Иванович.
Введение в нанотехнику [Текст] : научное издание / Ю.И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 491 с. : ил. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 880 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.3
Ключевые слова: нанотехника -- квантовые эффекты -- электронная микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- наночастицы -- зондовые технологии -- наноматериалы -- наноэлектроника -- наноприборы -- наномашины -- наносистемы -- нанобиотехнологии -- молекулярные устройства -- нанореволюция
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
4. 531.7
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
5. 620.3
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
6. 6.06
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
О-753
Основы аналитической электронной микроскопии : научное издание / Под ред. Дж. Дж. Грена [и др.]. - М. : Металлургия, 1990. - 584 с. : ил. - ISBN 5-229-00375-5. - ISBN 0-306-40280-7 : 7.40 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:620.18
Ключевые слова: электронная микроскопия -- аналитическая электронная микроскопия
Доп.точки доступа: Грен, Дж.Дж. \ред.\ --- Гольдштейн, Дж.И. \ред.\ --- Джой, Д.К. \ред.\ --- Ромиг, А.Д. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
7. 6П4.51
М54
Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - .
Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р.
ГРНТИ 53.49.21
УДК:669.017(035)621.785(035)
Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования
Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (4), аб (1)
Свободны: кх (4), аб (1)
Найти похожие
М54
Металловедение и термическая обработка стали : справочник. В 3-х т. / Под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1983 - .
Т. 1 : Методы испытаний и исследований / Под ред. Б. С. Бокштейна [и др.]. - 1983. - 215 с. : ил. - ). - 2.50 р.
ГРНТИ 53.49.21
УДК:669.017(035)621.785(035)
Ключевые слова: микроанализ металлов -- макроанализ металлов -- рентгеноструктурный анализ металлов -- микрорентгеноспектральный анализ металлов -- стереология -- количественная металлография -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- статические испытания металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания металлов -- физические методы исследования
Доп.точки доступа: Бернштейн, М.Л. \ред.\ --- Рахштадт, А.Г. \ред.\ --- Бокштейн, Б.С. \ред.\ --- Векслер, Ю.Г. \ред.\ --- Виноград, М.И. \ред.\ --- Дроздовский, Б.А. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (4), аб (1)
Свободны: кх (4), аб (1)
Найти похожие
8. 6п3.4
В558
Вишняков, Яков Дмитриевич.
Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
В558
Вишняков, Яков Дмитриевич.
Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов : научное издание / Я. Д. Вишняков. - М. : Металлургия, 1975. - 480 с. : ил. - 2.70 р.
ГРНТИ 53.49.19
УДК:669.017
Ключевые слова: структура деформированных кристаллов -- исследования деформированных кристаллов -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- экзоэлектронная эмиссия -- рентгеновские дифракционные методы -- нейтронографические исследования
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
9. 6П3.4
Б258
Баррет, Чарльз С.
Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры
Доп.точки доступа: Массальский, Т. Б. --- Бернштейн, А. М. \пер.\ --- Добаткин, С. В. \пер.\ --- Бернштейн, М. Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
Б258
Баррет, Чарльз С.
Структура металлов : [В 2 частях] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; Пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; Под ред. М. Л. Бернштейна. - Москва : Металлургия, 1984 - .
Ч. 2. - 1984. - 353-686 с. : ил. - ). - 3.20 р., 200 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: структуры металлов -- теории металлических фаз -- дефекты в кристаллах -- рентгеновские лучи -- электронная микроскопия -- измерения напряжений -- твердые состояния -- фазовые превращения -- кристаллы в литых металлах -- кристаллы в электролитических покрытиях -- текстуры холодных деформаций -- текстуры отжига -- дифракции электронов -- дифракции нейтронов -- магнитные структуры
Доп.точки доступа: Массальский, Т. Б. --- Бернштейн, А. М. \пер.\ --- Добаткин, С. В. \пер.\ --- Бернштейн, М. Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 3
Mесто хранения: кх (3)
Свободны: кх (3)
Найти похожие
10. 6П3.4
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие
П75
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / Под. ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - .
Вып. 2 / Предисл. В.Н.Колесникова. - 1974. - 363 с. : ил. - ). - 1.70 р.
ГРНТИ 53.49
УДК:669.017
Ключевые слова: металловедение физическое -- методы -- приборы -- электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрофотометрия -- монографии
Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\ --- Колесников, В.Н. \авт. предисл.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)
Найти похожие