Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 2
1. 621.38
Б862
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : Пер. с англ. / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред. И.Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 275 с. : ил. - ISBN 5020249637 : 147.70 р.
ГРНТИ 47.29.39
УДК:621.386
Ключевые слова: кристаллическое совершенство -- анализ эпитаксиальных слоев -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеновские дифракционные кривые качания -- анализ тонких пленок -- многослойные системы -- рентгеновская дифрактометрия -- трехосевая рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская топография -- однокристальная рентгеновская топография -- двухкристальная рентгеновская топография
Доп.точки доступа: Таннер, Б.К. --- Шульпина, И.Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Б862
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : Пер. с англ. / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред. И.Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 275 с. : ил. - ISBN 5020249637 : 147.70 р.
ГРНТИ 47.29.39
УДК:621.386
Ключевые слова: кристаллическое совершенство -- анализ эпитаксиальных слоев -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеновские дифракционные кривые качания -- анализ тонких пленок -- многослойные системы -- рентгеновская дифрактометрия -- трехосевая рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская топография -- однокристальная рентгеновская топография -- двухкристальная рентгеновская топография
Доп.точки доступа: Таннер, Б.К. --- Шульпина, И.Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
2. 6П3.4
Д503
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении : научное издание / Пер. с англ. А.М. Глезера, И.А. Русаковой, А.В. Суязова; Под ред. М.П. Усикова ; Под ред. С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. - 6.20 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.22669.017
Ключевые слова: физическое материаловедение -- методы исследования твердых тел -- дифракционная электронная микроскопия -- микроскопия -- рентгенография -- нейтронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия
Доп.точки доступа: Амелинкс, С. \ред.\ --- Геверс, Р. \ред.\ --- Ван Ландё, Дж. \ред.\ --- Усиков, М.П. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 4
Mесто хранения: кх (3), аб (1)
Свободны: кх (3), аб (1)
Найти похожие
Д503
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении : научное издание / Пер. с англ. А.М. Глезера, И.А. Русаковой, А.В. Суязова; Под ред. М.П. Усикова ; Под ред. С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ландё. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. - 6.20 р.
ГРНТИ 81.09
УДК:620.22669.017
Ключевые слова: физическое материаловедение -- методы исследования твердых тел -- дифракционная электронная микроскопия -- микроскопия -- рентгенография -- нейтронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия
Доп.точки доступа: Амелинкс, С. \ред.\ --- Геверс, Р. \ред.\ --- Ван Ландё, Дж. \ред.\ --- Усиков, М.П. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 4
Mесто хранения: кх (3), аб (1)
Свободны: кх (3), аб (1)
Найти похожие