Выберите из списка что вы ищете:

Поиск ведется по: Ключевым словам Заглавию Автору

Отсортировать найденные документы по: авторузаглавиюгоду изданиятипу документа

Общее количество найденных документов : 2

1.    621.38
   Б862
    Боуэн, Д. К.
    Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : Пер. с англ. / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред. И.Л. Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 275 с. : ил. - ISBN 5020249637 : 147.70 р.
ГРНТИ 47.29.39
УДК:621.386

Рубрики: Электроника--Рентгеновская дифрактометрия--Рентгеновская топография ---

Ключевые слова: кристаллическое совершенство -- анализ эпитаксиальных слоев -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеновские дифракционные кривые качания -- анализ тонких пленок -- многослойные системы -- рентгеновская дифрактометрия -- трехосевая рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская топография -- однокристальная рентгеновская топография -- двухкристальная рентгеновская топография
Доп.точки доступа: Таннер, Б.К. --- Шульпина, И.Л. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)

Найти похожие

2.    6П2.154
   Г168
    Галушкин, Александр Иванович.
    Синтез многослойных систем распознавания образов : научное издание / А. И. Галушкин. - М. : Энергия, 1974. - 367 с. : ил. - 1.14 р.
ГРНТИ 28.23.15
УДК:004.93

Рубрики: Распознавание образов--Синтез многослойных систем ---

Ключевые слова: распознавание образов -- синтез многослойных систем -- многослойные системы
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: кх (1)
Свободны: кх (1)

Найти похожие