Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 19
| 1-10 11-19 |
1. 531.7
И374
Измерение размеров шаблона на инструментальном микроскопе ММИ : Метод. рук-во к лаб. работе 8 по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация" / Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т ; сост. В. В. Садыков. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2005. - 12 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ 90
УДК:531.7(075.8)
Ключевые слова: инструментальные микроскопы ММИ -- измерение размеров шаблонов -- лабораторные работы -- методические руководства -- учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу полный текст
Доп.точки доступа: Садыков, В. В. \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 9
Mесто хранения: аб (6), кх (3)
Свободны: аб (6), кх (3)
Найти похожие
И374
Измерение размеров шаблона на инструментальном микроскопе ММИ : Метод. рук-во к лаб. работе 8 по курсу "Метрология, стандартизация и сертификация" / Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т ; сост. В. В. Садыков. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2005. - 12 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ 90
УДК:531.7(075.8)
Ключевые слова: инструментальные микроскопы ММИ -- измерение размеров шаблонов -- лабораторные работы -- методические руководства -- учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу полный текст
Доп.точки доступа: Садыков, В. В. \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 9
Mесто хранения: аб (6), кх (3)
Свободны: аб (6), кх (3)
Найти похожие
2. 531.7
О-624
Определение линейных размеров тел с помощью штангенциркуля, микрометра и микроскопа : Метод. указание к выполн. лаб. работы / ВСГТУ ; Сост. Б.Д. Лыгденов, О.В. Старова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2006. - 10 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ 90
УДК:531.7(075.8)
Ключевые слова: измерения -- измерительные инструменты -- штангенциркули -- микрометры -- микроскопы -- линейные размеры тел -- определение линейных размеров тел -- методические указания -- лабораторные работы -- учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Лыгденов, Б.Д. \сост.\ --- Старова, О.В. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 6
Mесто хранения: кх (3), аб (3)
Свободны: кх (3), аб (3)
Найти похожие
О-624
Определение линейных размеров тел с помощью штангенциркуля, микрометра и микроскопа : Метод. указание к выполн. лаб. работы / ВСГТУ ; Сост. Б.Д. Лыгденов, О.В. Старова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2006. - 10 с. : ил. - б.ц.
ГРНТИ 90
УДК:531.7(075.8)
Ключевые слова: измерения -- измерительные инструменты -- штангенциркули -- микрометры -- микроскопы -- линейные размеры тел -- определение линейных размеров тел -- методические указания -- лабораторные работы -- учебные пособия
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Лыгденов, Б.Д. \сост.\ --- Старова, О.В. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 6
Mесто хранения: кх (3), аб (3)
Свободны: кх (3), аб (3)
Найти похожие
3. 620.1
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---Ключевые слова: микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- рентгеновские методы анализа -- дифракционный анализ -- рентгеновская дифракция -- дифракция электронов -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- электронная микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ -- химический анализ поверхности -- рентгеноская фотоэлектронная спектроскопия -- анализ Оже-электронов -- ионная масс-спектроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
Б874
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие [для вузов] по напр. подгот. "Прикладные математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; Пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова, О.В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - ISBN 5-94836-018-0 : 836 р.
Рек. Ин-том хим. физики РАН
ГРНТИ 81.09.81
29.35.43
УДК:620.179(075.8)681.7(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Материаловедение--Методы исследования--Учебные пособия --- Микроскопия--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Каплан, У. --- Баженов, С.Л. \ред.\ --- Егорова, О.В. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
4. 681.7
Е302
Егорова, Ольга Владимировна.
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О.В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-129-1 : 1172 р.
ГРНТИ 81.37
УДК:681.7
Ключевые слова: техническая микроскопия -- микроскопы -- металлографические микроскопы -- поляризационные микроскопы -- стереоскопические микроскопы -- специализированные микроскопы -- люминесцентные микроскопы -- методы исследования в микроскопии -- контрастирование -- стандарты микроскопии -- контроль качества изображения -- оценка качества изображения объективов микроскопов
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: зал ППС (1), чз (1)
Свободны: зал ППС (1), чз (1)
Найти похожие
Е302
Егорова, Ольга Владимировна.
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей : научное издание / О.В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-129-1 : 1172 р.
ГРНТИ 81.37
УДК:681.7
Ключевые слова: техническая микроскопия -- микроскопы -- металлографические микроскопы -- поляризационные микроскопы -- стереоскопические микроскопы -- специализированные микроскопы -- люминесцентные микроскопы -- методы исследования в микроскопии -- контрастирование -- стандарты микроскопии -- контроль качества изображения -- оценка качества изображения объективов микроскопов
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: зал ППС (1), чз (1)
Свободны: зал ППС (1), чз (1)
Найти похожие
5. 681.7
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---Ключевые слова: аналитическая электронная микроскопия -- просвечивающие электронные микроскопы -- спектроскопия -- энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия -- электронные микроскопы -- монографии
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
С381
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [Монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; Пер. с англ. С.А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 08). - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 : 73 р.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:681.7543.4
Рубрики: Микроскопия--Аналитические электронные микроскопы--Монографии --- Аналитическая химия--Оптические методы анализа ---
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (1), зал ППС (1)
Свободны: чз (1), зал ППС (1)
Найти похожие
6. 543
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
7. 620.1
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---Ключевые слова: микроскопические методы исследований -- исследования материалов -- оптическая микроскопия -- электромагнитное излучение -- микроскопы -- цифровые изображения -- обработка изображений -- микроскопия отраженного света -- 3D конфокальная лазерная сканирующая микроскопия -- оптические методы исследований -- электромагнитные методы исследований
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
К474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов : научное издание / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт ; Пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13). - ISBN 978-5-94836-121-5. - ISBN 1-85573-587-3 : 203 р.
ГРНТИ 81.09.03
29.35.43
УДК:620.179681.7
Рубрики: Материаловедение--Исследования материалов --- Микроскопия--Микроскопические методы исследований ---
Доп.точки доступа: Эберхардт, Колин Н ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (2)
Найти похожие
8. 615
М545
Методическое указание для проведения практических занятий по дисциплине "Оборудование клинических центров" / С. С. Ямпилов [и др.] ; Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2010. - 48 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 76.13
УДК:615.4(075.8)
Ключевые слова: лабораторные медицинские устройства -- термостаты -- термометры -- термоконтакторы -- стерилизаторы -- лабораторные центрифуги -- электронные микроскопы -- гемоцитометры -- гемокоагулометры -- глюкоанализаторы -- автоматические цифровые осмометры -- ph-метры -- иономеры -- методические указания
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в bookonlime
Доп.точки доступа: Ямпилов, С.С. --- Хараев, Г.И. --- Полякова, Л.Е. --- Хантургаев, А.Г. --- Цыбенов, Ж.Б. --- Дондокова, Г.Ж. --- Залуцкий, А.В. --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (5)
Свободны: кх (5)
Найти похожие
М545
Методическое указание для проведения практических занятий по дисциплине "Оборудование клинических центров" / С. С. Ямпилов [и др.] ; Вост.-Сиб. гос. технол. ун-т. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2010. - 48 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 76.13
УДК:615.4(075.8)
Ключевые слова: лабораторные медицинские устройства -- термостаты -- термометры -- термоконтакторы -- стерилизаторы -- лабораторные центрифуги -- электронные микроскопы -- гемоцитометры -- гемокоагулометры -- глюкоанализаторы -- автоматические цифровые осмометры -- ph-метры -- иономеры -- методические указания
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в bookonlime
Доп.точки доступа: Ямпилов, С.С. --- Хараев, Г.И. --- Полякова, Л.Е. --- Хантургаев, А.Г. --- Цыбенов, Ж.Б. --- Дондокова, Г.Ж. --- Залуцкий, А.В. --- Восточно-Сибирский государственный технологический университет (Улан-Удэ)
Экземпляры всего: 5
Mесто хранения: кх (5)
Свободны: кх (5)
Найти похожие
9. 6П4.6
П 532
Полунов, Ю. Л.
Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в станкостроении : обзор / Ю.Л. Полунов. - М : [б. и.], 1971. - 136 с. : ил. - (Станкостроение). - 1.03 р.
ГРНТИ 55.29
УДК:621.9.08
Ключевые слова: микроскопы фотоэлектрические -- сканаторы -- автоколлиматоры -- автоколлиматорные приборы -- контрольно-измерительные инструменты -- обзоры
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
П 532
Полунов, Ю. Л.
Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в станкостроении : обзор / Ю.Л. Полунов. - М : [б. и.], 1971. - 136 с. : ил. - (Станкостроение). - 1.03 р.
ГРНТИ 55.29
УДК:621.9.08
Ключевые слова: микроскопы фотоэлектрические -- сканаторы -- автоколлиматоры -- автоколлиматорные приборы -- контрольно-измерительные инструменты -- обзоры
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (2)
Свободны: кх (2)
Найти похожие
10. 620.3
С253
Свойства и применение наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.30
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: наноматериалы -- фуллерены -- графены -- нанотрубки -- размерное квантование -- радиационная передача тепла -- бесконтактное трение -- металлические нанокластеры -- атомная оптика -- нанокомпозитные покрытия -- сверхтвердые нанокомпозиты -- оптические свойства наноматериалов -- микроструктурированные световоды -- нанодиагностика -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Воронов, Владимир Кириллович --- Ким, Де Чан --- Янюшкин, Александр Сергеевич --- Геращенко, Людмила Андреевна ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (2), аб (7)
Найти похожие
С253
Свойства и применение наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.30
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: наноматериалы -- фуллерены -- графены -- нанотрубки -- размерное квантование -- радиационная передача тепла -- бесконтактное трение -- металлические нанокластеры -- атомная оптика -- нанокомпозитные покрытия -- сверхтвердые нанокомпозиты -- оптические свойства наноматериалов -- микроструктурированные световоды -- нанодиагностика -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Воронов, Владимир Кириллович --- Ким, Де Чан --- Янюшкин, Александр Сергеевич --- Геращенко, Людмила Андреевна ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (2), аб (7)
Найти похожие