Поиск ведется по:
Общее количество найденных документов : 66
|
1-10
11-20
21-30
31-40
41-50
51-60
|
1.
Методические указания для выполнения курсовой работы по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия" [Электронный ресурс] : для бакалавров по направлению подготовки 22.03.02 "Металлургия" / Вост.-Сиб. гос. ун-т технологий и упр. ; сост. И. П. Полянский. - Улан-Удэ : Издательство ВСГУТУ, 2021. - 14 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
53
Рубрики: Металлургия--Микроскопия электронная--Методические указания --- Металлургия--Рентгенография--Методические указания ---Ключевые слова: рентгенография -- электронная микроскопия -- курсовые работы -- методические указания
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Полянский, Иван Петрович \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления (Улан-Удэ)
Свободных экз. нет
Найти похожие
Методические указания для выполнения курсовой работы по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия" [Электронный ресурс] : для бакалавров по направлению подготовки 22.03.02 "Металлургия" / Вост.-Сиб. гос. ун-т технологий и упр. ; сост. И. П. Полянский. - Улан-Удэ : Издательство ВСГУТУ, 2021. - 14 с. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
53
Рубрики: Металлургия--Микроскопия электронная--Методические указания --- Металлургия--Рентгенография--Методические указания ---
Перейти к внешнему ресурсу полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Полянский, Иван Петрович \сост.\ --- Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления (Улан-Удэ)
Свободных экз. нет
Найти похожие
2. 543
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие
А64
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по химико-технологическим направлениям / под ред. А. А. Ищенко. - 3-е изд., стер. - Москва : Издательский центр "Академия". - (Высшее образование - Бакалавриат) (Химические технологии).
Т. 2 / Н. В. Алов [и др.]. - 2014. - 411, [1] с. : рис., табл. ; 24 см. - Предм. указ.: с. 396-407. - 500 экз.. - ISBN 978-5-4468-1316-2 (в пер.) : 889.90 р.
ГРНТИ 31.19
УДК:543(075.8)
Ключевые слова: аналитическая химия -- спектроскопические методы анализа -- масс-спектрометрия -- спектроскопия ядерного магнитного резонанса -- рентгеновский фазовый анализ -- кинетические методы анализа -- ядерно-физические методы анализа -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- электронная микроскопия -- методы локального анализа -- методы анализа поверхности -- портативные аналитические системы -- экспертные системы -- спектральный анализ -- производственный аналитический контроль -- метрология в аналитической химии -- учебники
Доп.точки доступа: Ищенко, А. А. \ред.\ --- Алов, Николай Викторович --- Василенко, Иван Александрович --- Гольдштрах, Марианна Александровна --- Грибов, Л. А. ---
Экземпляры всего: 15
Mесто хранения: чз (3), аб (12)
Свободны: чз (3), аб (12)
Найти похожие
3. 620.3
С253
Свойства и применение наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.30
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: наноматериалы -- фуллерены -- графены -- нанотрубки -- размерное квантование -- радиационная передача тепла -- бесконтактное трение -- металлические нанокластеры -- атомная оптика -- нанокомпозитные покрытия -- сверхтвердые нанокомпозиты -- оптические свойства наноматериалов -- микроструктурированные световоды -- нанодиагностика -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Воронов, Владимир Кириллович --- Ким, Де Чан --- Янюшкин, Александр Сергеевич --- Геращенко, Людмила Андреевна ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (2), аб (7)
Найти похожие
С253
Свойства и применение наноматериалов : учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств" / В. К. Воронов [и др.]. - 2-е изд., перераб. и доп. - Старый Оскол : ТНТ, 2013. - 219, [1] с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 199. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94178-296-3 (в пер.) : 330.00 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 81.09.30
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: наноматериалы -- фуллерены -- графены -- нанотрубки -- размерное квантование -- радиационная передача тепла -- бесконтактное трение -- металлические нанокластеры -- атомная оптика -- нанокомпозитные покрытия -- сверхтвердые нанокомпозиты -- оптические свойства наноматериалов -- микроструктурированные световоды -- нанодиагностика -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Воронов, Владимир Кириллович --- Ким, Де Чан --- Янюшкин, Александр Сергеевич --- Геращенко, Людмила Андреевна ---
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: чз (3), аб (7)
Свободны: чз (2), аб (7)
Найти похожие
4. 531.7
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
Л66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности : [Учебное пособие для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; Пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 390. - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.). - ISBN 978-0-08-096454-6 : 1270.50 р.
ГРНТИ 90.27
81.09.03
УДК:531.7(075.8)620.3(075.8)
Ключевые слова: нанометровая точность -- метрология -- нанотехнологии -- инженерные основы измерений -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- измерение перемещений -- средства измерений -- сканирующая зондовая микроскопия -- электронная микроскопия -- ионная микроскопия -- рельеф поверхности -- координатная метрология -- измерения сил -- измерения масс -- учебные пособия
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: чз (2)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
5.
Марголин, Владимир Игоревич.
Введение в нанотехнологию [Электронный ресурс] : учебник для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 "Конструирование и технология электронных средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, Г. Н. Лукьянов, В. А. Тупик. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2012. - 457 с. - Б. ц.
Ключевые слова: нанотехнологии -- традиционные проблемы нанотехнологии -- фрактальная геометрия -- фрактальная физика -- специфические проблемы наномира -- нанодисперсное состояние вещества -- нанометрология -- качественный анализ -- количественный анализ -- топографический анализ -- структурный анализ -- зондовая микроскопия -- перспективные направления нанотехнологии -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС "Лань"
Доп.точки доступа: Жабрев, Валентин Александрович --- Лукьянов, Геннадий Николаевич --- Тупик, Виктор Анатольевич ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
Марголин, Владимир Игоревич.
Введение в нанотехнологию [Электронный ресурс] : учебник для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 "Конструирование и технология электронных средств" / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, Г. Н. Лукьянов, В. А. Тупик. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2012. - 457 с. - Б. ц.
Ключевые слова: нанотехнологии -- традиционные проблемы нанотехнологии -- фрактальная геометрия -- фрактальная физика -- специфические проблемы наномира -- нанодисперсное состояние вещества -- нанометрология -- качественный анализ -- количественный анализ -- топографический анализ -- структурный анализ -- зондовая микроскопия -- перспективные направления нанотехнологии -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС "Лань"
Доп.точки доступа: Жабрев, Валентин Александрович --- Лукьянов, Геннадий Николаевич --- Тупик, Виктор Анатольевич ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
6. 620.3
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
Н347
Научные основы нанотехнологий и новые приборы : Учебник-монография / Перевод с английского А.Д. Калашникова ; Под ред.: Р. Келсалла, А. Хамли, М. Геогегана. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 528 с. : ил. ; 24 см. - ISBN 978-5-91559-048-8 (в пер.) : 1732.50 р.
ГРНТИ 81.09.03
УДК:620.3(075.8)
Ключевые слова: нанотехнологии -- новые приборы -- методы микроскопии -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- полевая ионная микроскопия -- сканирующие зондовые методы -- фотонная спектроскопия -- электронная спекторскопия -- радиочастотная спектроскопия -- неорганические полупроводящие наноструктуры -- квантовые ограничения -- полупроводящие наноструктуры -- наномагнитные материалы -- неорганические наноматериалы -- молекулярная электроника -- электро-оптические устройства -- самособирающиеся мягкие молекулярные материалы -- макромолекулы -- структурированные органические пленки -- бионанотехнологии -- учебники -- монографии
Доп.точки доступа: Келсалл, Р. \ред.\ --- Хамли, А. \ред.\ --- Геогеган, М. \ред.\ ---
Экземпляры всего: 2
Mесто хранения: кх (1), чз (1)
Свободны: кх (1), чз (1)
Найти похожие
7. 621.38
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
П764
Применение растровой электронной микроскопии для исследования структуры материалов : Метод. указание для студентов, магистров техн. и технол. спец. 150100, 151005, 260200, 270100 / ВСГТУ ; Сост. С.Б. Жигжитова. - Улан-Удэ : Издательство ВСГТУ, 2011. - 18 с. : ил. - Б. ц.
ГРНТИ 29.35.43
УДК:621.385.8(075.8)
Ключевые слова: растровая электронная микроскопия -- микроскопия -- исследования структуры материалов -- методические указания -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Жигжитова, С.Б. \сост.\ --- ВСГТУ
Экземпляры всего: 10
Mесто хранения: кх (5), аб (5)
Свободны: кх (5), аб (5)
Найти похожие
8.
Сердюк, И. Н.
Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Электронный ресурс] : учебник в 2-х т. / И. Н. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; пер. с англ., науч. ред. И. Н. Сердюк. - Москва : КДУ, 2009 - . - 978-5-98227-452-6 экз..
Т. 2. - 2010. - 735 с. : ил., табл. - ). - Библиогр.: с. 685-726 . - Авт. указ.: с. 727-729. - ISBN 978-5-98227-454-0 : Б. ц.
ГРНТИ 34.17.15
Ключевые слова: молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- световая микроскопия -- конфокальная микроскопия -- безлинзовая микроскопия -- микроскопия силового поля -- флуоресцентная микроскопия -- детектирование одиночных молекул -- макромолекулярная механика -- биологические моторы -- рентгеновская рефракция -- нейтронная рефракция -- макромолекулы -- малоугловое рассеяние -- макромолекулярная рентгеновская кристаллография -- нейтронография -- электронная дифракция -- электронная микроскопия -- трехмерная реконструкция -- спектроскопия -- абсорбционная спектроскопия -- ИК-спектроскопия -- спектроскопия комбинационного рассеяния -- оптическая активность -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Заккаи, Натан --- Заккаи, Джозеф Джузеппе ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
Сердюк, И. Н.
Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Электронный ресурс] : учебник в 2-х т. / И. Н. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; пер. с англ., науч. ред. И. Н. Сердюк. - Москва : КДУ, 2009 - . - 978-5-98227-452-6 экз..
Т. 2. - 2010. - 735 с. : ил., табл. - ). - Библиогр.: с. 685-726 . - Авт. указ.: с. 727-729. - ISBN 978-5-98227-454-0 : Б. ц.
ГРНТИ 34.17.15
Ключевые слова: молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- световая микроскопия -- конфокальная микроскопия -- безлинзовая микроскопия -- микроскопия силового поля -- флуоресцентная микроскопия -- детектирование одиночных молекул -- макромолекулярная механика -- биологические моторы -- рентгеновская рефракция -- нейтронная рефракция -- макромолекулы -- малоугловое рассеяние -- макромолекулярная рентгеновская кристаллография -- нейтронография -- электронная дифракция -- электронная микроскопия -- трехмерная реконструкция -- спектроскопия -- абсорбционная спектроскопия -- ИК-спектроскопия -- спектроскопия комбинационного рассеяния -- оптическая активность -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс -- учебники
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС bookonlime
Доп.точки доступа: Заккаи, Натан --- Заккаи, Джозеф Джузеппе ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
9.
Физические основы нанотехнологий [Электронный ресурс] : учебно-методические материалы / сост. А. А. Пронин. - Шуя : ГОУ ВПО ШГПУ, 2009. - 112 с. - Б. ц.
Ключевые слова: нанотехнологии -- физические основы электронной микроскопии -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- учебно-методические материалы
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС "Руконт"
Доп.точки доступа: Пронин, А. А. \сост.\ ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
Физические основы нанотехнологий [Электронный ресурс] : учебно-методические материалы / сост. А. А. Пронин. - Шуя : ГОУ ВПО ШГПУ, 2009. - 112 с. - Б. ц.
Ключевые слова: нанотехнологии -- физические основы электронной микроскопии -- зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- учебно-методические материалы
Перейти к внешнему ресурсу полный текст в ЭБС "Руконт"
Доп.точки доступа: Пронин, А. А. \сост.\ ---
Свободных экз. нет
Найти похожие
10. 543
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- учебные пособия
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие
С423
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ : учеб. пособие для вузов / Под общ. ред. М.М. Криштала. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 246 р.
Допущено УМО
ГРНТИ 31.19
29.35.43
УДК:543.4(075.8)621.385.8(075.8)
Рубрики: Аналитическая химия--Учебные пособия --- Микроскопия--Сканирующая электронная микроскопия--Рентгеноспектральный микроанализ--Учебные пособия ---
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович \ред.\ ---
Экземпляры всего: 1
Mесто хранения: чз (1)
Свободны: чз (1)
Найти похожие